AFM顕微鏡 Icon®

研究用床置き高解像度

ブルカーのDimension Icon®は、大型試料測定、高分解能、操作性、多機能、拡張性のすべてのニーズに合致し、従来製品を遙かに凌駕したAFM（原子間力顕微鏡）です。世界で最も利用されている大型試料向けAFMプラットフォームをベースに、数十年にわたる技術革新、お客様からのフィードバックを元に開発しており、業界をリードする幅広いアプリケーションに対応する高い柔軟性を兼ね備えています。ブルカーのDimension Icon®は、超低ノイズ・低ドリフトのクローズドループスキャナー搭載。更に新技術のPeakForce Tapping技術によりワンプッシュオペレーションを可能にしたScanAsyst機能及び定量的機械特性マッピング機能のPeakForce QNMを搭載可能にした画期的AFMです。 チップスキャナー オープンループ・ノイズ・レベル、ノイズ・フロアの低減、200pm以下のドリフト・レートで、業界唯一の大型試料測定での高分解能を実現します。 オープンアクセスプラットフォーム 様々な実験、モード、技術、半自動測定に対応しています。 最高性能・高解像度 Dimension Iconの優れた分解能とブルカー独自の電子走査アルゴリズムは、ユーザーに測定速度と品質を大幅に向上させます。アイコンは、ブルカーの業界をリードするチップスキャンAFM技術の集大成であり、温度補償型の位置センサーを搭載し、Z軸ではサブオングストローム範囲のノイズレベルを、XYではオングストローム範囲のノイズレベルをレンダリングします。これは、高分解能AFMのオープンループノイズレベルを上回る、大サンプル、90ミクロンのスキャンレンジシステムにおける並外れた性能です。また、XYZクローズドループヘッドの新しいデザインは、画像品質を損なうことなく、より高いスキャン速度を実現し、データ収集のためのより高いスループットを可能にしています。Bruker独自のPeakForce Tapping®により、Dimension Iconは日常的に最高解像度の画像を作成することができます。