走査型プローブ顕微鏡 XR

ナノ特徴づけ用正立型卓上

ブルカーDimensionXRは数十年に渡る研究＆開発実績と技術革新をもとに、ナノスケール研究史上最高性能、高機能、拡張性を備えた1台。FastScan® 、Icon®AFM プラットフォームの最新モデルとなるExtream Research（XR）SPM ファミリーは、ナノメカニカル、ナノ電気およびナノ電気化学特性向けの最先端研究向けにユニークなパッケージソリューションを提供します。また大気、液中、電気または化学反応環境下における材料および活性ナノスケールシステムの定量化を、今までにないほど簡単に実現します。 機能性材料、半導体、エネルギー研究のための電気的AFM技術を網羅。 電池、燃料電池、腐食に関連する局所的な電気化学的活性の定量分析のための最高分解能のトータルソリューションを提供します。 ナノ力学特性解析 材料の構造とナノメカニクス特性を相関させるための完全に定量的なターンキー技術を提供する。 XR Nano Mechanics 機械特性評価パッケージは、ポリマー鎖の分子単位以下の空間分解能で最小の構造を包括的に検出するための様々なモードを提供します。研究者は、当社独自のAFM-nDMA™モードを使用して、バルクDMAおよびナノ同定法とナノメカニクスデータを相関させることができます。柔らかい粘着性のあるハイドロゲルや複合材料から硬い金属やセラミックまで、定量的なナノスケールの特性評価を実現します。 Dimension XR NanoElectrical電気特性評価パッケージは、単一のシステムで最も広範な電気的AFM技術をカバーしています。研究者は、独自のDataCubeモードを使用して、機械的特性測定と相関のあるすべてのピクセルの電気スペクトルをキャプチャします。このシステムは、1回の測定でこれまで得られなかった情報を提供します。 NanoElectroChemial 走査型電気化学顕微鏡パッケージにより、AFMベースの走査型電気化学顕微鏡（AFM-SECM）と電気化学AFM（EC-AFM）が可能になります。AFMオペレータは、< 100 nmの空間分解能で電気化学情報を取得し、単一システムで電気化学的、電気的、機械的マッピングを同時に実行します。