頭部X線規格撮影用フラットパネルディテクタ EVS 2430C

ポータブル9 x 12

低線量で76µmの高解像度画像 特許取得済みの画像処理技術TRUVIEW®ART 0.5秒ワンショットCephスキャン時間 正確な測定 最小の放射線量、最大の診断精度 EVS 2430Cは間接型（CsI）ダイナミックX線検出器であり、X線システムメーカーの製品に統合できるように設計されています。低ノイズのエレクトロニクスと高性能により、EVS 2430Cはセファロメトリックイメージングに最適なソリューションです。 低線量で76㎛の高解像度画像 - 市場最小76umピクセルサイズによる優れた解像度 - FOCUS (Fluorescent Optical CsI Upgraded Structure)シンチレータにより、低線量でも超低ノイズと優れたSNRを実現。 - >70%以上の卓越した低線量DQE 特許取得済みの画像処理技術TRUVIEW®ART 光散乱補正のための高度な画像再構成技術 0.5秒ワンショットスキャン 患者の動きによる歪みを軽減し、鮮明な画像を撮影 正確な測定 セファロで顎顔面と歯列矯正コンプレックスの正確な測定 仕様 シンチレーター FOCUS CsI ピクセルサイズ 76 ㎛ ピクセルマトリックス 3,072 x 3,840 データインターフェース ギガビットイーサネット