ペルオキシアセチルナイトレートは自然界には存在せず、人間の活動によってのみ生成される。そのため、PANは光化学汚染の代表的な指標となります。本システムは、GC-ECDの原理を採用し、試料中のPANを同定・定量することができます。
製品概要
ECDに63Ni放射線源を搭載し、6fg/ml以下の検出限界を実現。オートパージ機能により、ニッケルソースへのコンタミを防止し、安定性を保証します。
製品の特徴
完全なオンライン操作と自動キャリブレーション
PPTレベルまでの高感度・低検出限界
様々な要件やアプリケーションに対応する最大12回/時間の高速サイクルタイム
ユーザーフレンドリーな多機能ソフトウェアにより、遠隔操作が可能となり、メンテナンスコストの削減が可能です。
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