Hitachi High-Tech Europe GmbH :研究室 - MedicalExpo

出展者になる

{{>currencyLabel}}
- 戻る

日本語
- 戻る
- English
- Français
- Español
- Italiano
- Deutsch
- 中文
- português
- Русский

検索履歴削除

よくあるサーチ

サジェストキーワード

その他の項目

カタログ内で{0}を検索

{0}を含むメーカー名

製品 >
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Hitachi High-Tech Europe GmbHの全製品

Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

光学顕微鏡 SU9000II

走査電子透過型電子顕微鏡低温電子

電界放出形走査電子顕微鏡 SU8700

実験用床置きショットキー電界放出

CFE-SEM顕微鏡 SU8600

研究用 3D 卓上

電界放出形走査電子顕微鏡 SU7000

研究用 BF-STEM DF-STEM

電界放出形走査電子顕微鏡 SU5000

素材研究用 3D BF-STEM

走査型電子顕微鏡 SU series

多目的デスクトップ用 2次電子

走査型電子顕微鏡 FlexSEM 1000 II

光学生物学多目的

走査電子顕微鏡 TM4000 series

光学実験用トポグラフィー

XRF分光器 Quantax75

製薬産業用研究開発用環境分析用

XRF分光器 AZtec series

製薬産業用研究開発用環境分析用

測定用ソフト map

実験用分析可視化

STEM顕微鏡 HF5000

透過型電子顕微鏡実験用素材研究用

透過型電子顕微鏡顕微鏡 HT78 series

STEM 実験用研究用

医療用ソフト AMICS

分析イメージ分析自動

FE-SEM顕微鏡 SU3900SE

多目的卓上高解像度

FE-SEM顕微鏡 SU3 series

多目的床置きショットキー電界放出

FOCUSED ION BEAM SYSTEMS (FIB/FIB-SEM)

FIB/SEM顕微鏡 NX5000

光学走査電子透過型電子顕微鏡

光学顕微鏡 NX9000

走査電子透過型電子顕微鏡 FIB

FIB/SEM顕微鏡 NX2000

走査電子透過型電子顕微鏡 FIB

自動サンプル準備システム

電子顕微鏡用卓上真空

Sample Preparation

自動サンプル準備システム MC1000

走査型電子顕微鏡用イオンスパッタ表面用

自動サンプル準備システム ZONESEMII

実験用電子顕微鏡用掃除用

自動サンプル準備システム IM4000II

走査型電子顕微鏡用冷却イオンビームミリング

自動サンプル準備システム ArBlade 5000

電子顕微鏡用冷却イオンビームミリング

自動サンプル準備システム ZONETEM II

実験用電子顕微鏡用透過型電子顕微鏡

商品比較を空にする

10品まで比較できます