静的光散乱寸法測定器 LA-960V2

光学式レーザー粉末用

世界に届ける粒子計測（粒度分布測定）の性能と品質 世界で最高クラスの品質、精度、信頼を得たレーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica（パーティカ）シリーズ。Particaの実力を最大限に継承、かつ粒度分布サブミクロン領域の測定性能を革新し、測定レンジのみならず実用性、実性能でユーザニーズに応えるモノづくりにこだわりました。世界で認められた京都ブランドの誇り、世界最高水準機として Partica LA-960V2。 HORIBAから誕生です。 Particaは、微粒子サイズ計測で最も優れた性能を発揮します。 0.01μm(10nm)～5000μm(5.0mm) 業界最大値幅＊のダイナミック測定レンジ HORIBAが長年培った光学設計技術を踏襲し、理論に従った演算シミュレーションノウハウと実試料の測定結果解析を蓄積し、光散乱現象から最適化されたアルゴリズムによる演算手法を開発しました。ナノレンジの測定も精度と感度を改良し、Particaは平均径20nmの標準粒子測定（粒度分布測定）の実力を備えました。 ＊当社調べ(2013年6月現在) 最小平均径20nmの標準粒子の測定を実現 Particaの信頼性は出荷時の全数検査で確証されています。 標準粒子による±0.6%精度保証 ISO13320規格準拠 トレーサビリティサポート 特にニーズの高いサブミクロンからナノレンジの測定に関し、HORIBAは信頼性の高い粒子径とその分布幅を算出します。世界で初めて試みた粒子計測（粒度分布）業界初の精度保証をより強化しています。機差を極力抑えるための工夫として、分布幅（最小～最大粒子が約10倍程度）をもつNISTトレーサブルな計測機器を用いて製造された標準粒子を用いて一台一台確実に出荷検査を行っています。装置の異常を検知する目的だけではなく、そのパフォーマンスを実際の測定対象に近い条件で厳しい検査を行っています。 特長 ▶ ここが違う！レーザ回折/散乱式の粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2 進化し続けるソフトウェア ひと目で分かりやすいボタン配置。操作性、機能性を向上。 メソッド・エキスパート機能による粒径分布（粒度分布）最適測定条件の選定や考察が行え、ユーザによる自動測定の自由設計が可能。 旧モデルとのデータ相関ソフトウェア完備。