光学顕微鏡 DM3 XL

実験用検査用正立型

マイクロエレクトロニクスおよび半導体産業の検査、プロセス制御、欠陥および故障解析では、スピードが重要です。欠陥の検出が早ければ早いほど、迅速な対応が可能になります。 視野率30％アップ DM3 XL検査システムは、広い視野を持つため、チームはより迅速に欠陥を発見し、歩留まりを向上させることができます。独自のマクロ対物レンズの視野が30%拡大したことを活用してください。