自動サンプル準備システム EM RES102

実験用透過型電子顕微鏡卓上

ライカEM RES102は、試料の薄膜化、洗浄、研磨、斜面のカット、構造化など、最高レベルの柔軟性を備えています。独自のイオンビームミリングシステムは、TEM、SEM、LMサンプルの前処理を1台のベンチトップユニットで行うことができます。 多彩なサンプルホルダーにより、多様なアプリケーションに対応します。ライカEM RES102は、高エネルギーのイオンビームミリングに加えて、低エネルギーのイオンビームを使用した非常に穏やかなサンプル処理にも使用できます。