自動サンプル準備システム EM KMR3
実験用研究用電子顕微鏡用

自動サンプル準備システム - EM KMR3 - Leica Microsystems/ライカ - 実験用 / 研究用 / 電子顕微鏡用
自動サンプル準備システム - EM KMR3 - Leica Microsystems/ライカ - 実験用 / 研究用 / 電子顕微鏡用
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特徴

操作
自動
応用
実験用, 研究用, 電子顕微鏡用
設定
卓上
サイズ
ストリップ用

詳細

ライカ EM KMR3は、バランス割断法により6.4mm, 8mmおよび10mm厚の棒ガラスから、完璧なガラスナイフを確実に作製します。 ライカ EM KMR3は使いやすく、割断後にスコアリング機構は自動的にスタートポジションに戻るため、操作ミスが避けられます。 再現性が高く、比類のないナイフ品質 割断サイクル中、割断ヘッドによって棒ガラスの両側に正確に同じ力を加えます。 容易なハンドリング 独自のドロワー機構により、特別なツールを使用しなくてもガラスナイフを安全かつ容易に取り出せます。 簡単な操作 割断およびスコアリング機構の自動リセットにより、誤操作の発生を最小限にします。

カタログ

EM KMR3
EM KMR3
8 ページ
EM UC7
EM UC7
16 ページ

見本市

この販売者が参加する展示会

AEEDC 2025
AEEDC 2025

4-06 2月 2025 Dubai (アラブ首長国連邦) ブース 807

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    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。