XRF分光器 Zetium

製薬産業用

ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置 蛍光X線分析装置(XRF)は、固体、液体、粉末など、さまざまな物質の元素を分析する事が可能です。中でも波長分散型はより高精度を求められる分析に適しております。当社の波長分散蛍光X線分析装置(WDXRF) Zetiumは、最も厳しい品質管理と研究開発用途に対応するよう設計され、BeからAmの元素領域をより高感度に分析できる革新的な機能を搭載しています。 WDXRFのプラットフォームに、エネルギー分散蛍光X線分析装置（EDXRF）の技術を統合可能なSumXcore技術が組み込まれています。この独自の組み合わせは、さまざまな環境での分析能力、速度、およびその柔軟性においてZetiumを比類なき存在にしています。 波長分散とエネルギー分散の機能を搭載可能な唯一の蛍光X線装置（XRF）-Zetium マルバーン・パナリティカルの蛍光X線装置（XRF）Zetiumは、最大 5 種類まで選択可能な検出器の組み合わせにより、様々な分析ニーズに対して最適な高感度測定を実現しています。光読み取り式エンコーダ搭載ゴニオメータ （ＤＯＰＳ）採用により高い角度再現性を実現、更に新開発ドリフトフリーX線管球との組み合わせにより、長期に渡り良質な分析精度を維持する事が可能です。集塵機能を搭載した予備排気機構により、装置内を常にクリーン保つことができ、簡単なメンテナンスにより装置のダウンタイムを極限まで減らすとともに、専用ソフトウェアによる装置状態の常時モニター機能でトラブルの未然防止が可能です。 あらゆるニーズに対応するハイブリッド機構 WDX(波長分散) + EDX(エネルギー分散) より最適な測定条件設定 軽元素を得意とする WDX の光学系と、重元素を高分解能に検出する EDX の光学系（オプションで選択可能）との同時計測により、従来の WDX のみの装置では困難であった最適な測定条件を提供します。 測定時間の短縮 WDX のデータの測定中に EDX のデータを同時取り込みすることで測定時間を最大 50％短縮します。 微小部マッピング 多元素同時分析を行うEDXによる微小部元素分析により、測定時間を従来の約 1/10 に短縮。実用的な時間での元素マッピングが可能です。また、微小領域の FP 定量にも対応しています。