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XRF分光器 2830 ZT
水の分析用

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特徴

タイプ
XRF
用途
水の分析用

詳細

2830 ZT 先進の半導体薄膜測定ソリューション 2830 ZT波長分散型蛍光X線(WDXRF)ウェハーアナライザは、膜厚・組成を測定するための究極の機能を提供します。 2830 ZTウェーハアナライザは半導体およびデータストレージ業界向けに開発されており、最大300 mmの各種ウェーハの層の組成、厚さ、ドーパントレベル、表面の均一性を測定できます

カタログ

2830 ZT
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