NETZSCH LFA 457 MicroFlash®® は、現代のレーザーフラッシュシステムの最新の技術に基づいています。この卓上タイプの装置は、ユーザーが簡単に交換可能な2つの加熱炉を使って、-125°C~1100°C の温度範囲の測定が可能です。
このシステムに使用されている革新的な赤外線検知技術により、試料背面の温度上昇を-125°C でも測定することが可能です。
小さな試料から最大25.4 mm 径の試料まで測定可能で、内蔵サンプルチェンジャーにより、数個の試料を逐次測定することが可能です。
真空密閉構造ですので、一定の組成の雰囲気での測定も可能です。
試料ホルダー、加熱炉及び赤外線検知器は、垂直方向に配置されていますので、 試料のセットが簡単で、同時に、検知器信号の最高のS/N比を確かなものにしています。
LFA 457 MicroFlash®® は、最先端のシステムであると同時に、多用途性を考慮して設計されているので、自動車工業、航空宇宙産業、エネルギー技術などの分野の、標準品からハイテク材料まで、あらゆる材料の研究開発に応用することができます。
測定温度範囲
-120°C~500°C、室温~1100°C
(2タイプの交換可能加熱炉)
加熱・冷却速度
0.01 K/min~50 K/min (加熱炉タイプによる)
レーザー出力
最大18 J/パルス(出力は可変)
測定範囲: 0.01 mm2/s~1000 mm2/s (熱拡散率)
測定範囲: 0.1 W/mK~2000 W/mK (熱伝導率)
試料寸法: 10 mm~25.4 mm径(8X8mm角、10X10mm角も可能)
0.1 mm~6 mm厚
試料ホルダー材質:SiC、グラファイト、チタン酸アルミ
溶融金属用ホルダー材質:サファイア
液体用試料ホルダー材質:白金
測定雰囲気:不活性、酸化性、還元性、ガス静止、ガスフロー
10-2 mbar (1 Pa)までの真空密閉構造