ナノ粒子追跡分析寸法測定器 AirSentry® II
製薬産業用環境分析用

ナノ粒子追跡分析寸法測定器 - AirSentry® II - Particle Measuring Systems - 製薬産業用 / 環境分析用
ナノ粒子追跡分析寸法測定器 - AirSentry® II - Particle Measuring Systems - 製薬産業用 / 環境分析用
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特徴

技術
ナノ粒子追跡分析
応用
製薬産業用, 環境分析用

詳細

クリーンルーム大気中の分子状汚染物質 (AMC) は、電子デバイスやプロセス装置の性能に影響を及ぼし、歩留ロスや品質劣化の原因になります。適切なモニタリングが、迅速で的確なAMC対策の実施につながります。 AirSentry® II Mobile System は、イオンモビリティ・スペクトロメータ (AirSentry II Point-of-Use)、コンプレッサ、エアドライヤ、CDAタンク、真空ポンプ、UPSなど、サンプル採取とAMC検出に必要なコンポーネントをすべてキャスタ付きワゴンに搭載したシステムです。電源に接続せずに、約30分の測定が可能です。 ユーザーインターフェースとして搭載されたタッチパネルPCには、モニタリング統合管理ソフトウェア Facility Net がプリインストールされています。Facility Net を使用することで、レシピの作成と実行、測定データのリアルタイム表示と保存、アラーム、レポートの生成などを行うことができます。 AirSentry II Mobile System は、迅速な汚染源の特定と汚染防止に有効な、オールインワンの高感度移動式AMCモニタリングシステムです。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。