レーザー微粒子カウント装置 UltraChem® 40

レーザー微粒子カウント装置 - UltraChem® 40 - Particle Measuring Systems
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特徴

技術
レーザー

詳細

高分子溶液にレーザーを照射すると、汚染微粒子だけでなく分子からも光散乱が生じるため、パーティクルカウンタの検出信号にノイズが生じます。また背景ノイズも大きくなり、微粒子からの信号が埋もれてしまいます。NanoVision Technology®は高い画像処理能力により、微粒子と分子の光散乱を識別し、ノイズを除去します。 NanoVision Technologyを搭載するUltraChem® 40 は、高い品質管理が求められるプロセス用高純度薬液や超純水中の汚染微粒子を正確に検出する液中パーティクルカウンタです。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。