光学プロフィロメータ TopMap Micro.View®

多目的3Dトポグラフィー

TopMap Micro.View は、操作性に優れたコンパクトな光学式形状測定器です。強力な計測ソリューションは、卓越した機能および優れたコストパフォーマンスを持っています。 100 ミリメートルの z 方向測定レンジを持つ Continuous Scanning Technology(CST) は、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定することを可能にします。この便利な卓上型のセットアップは、測定を容易にして、かつ高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを持っていることを特徴としています。 特長 コンパクトなセットアップで表面を測定 3D形状、粗さ、および表面詳細の非接触測定 CST (Continuous Scanning Technology) による 100 ミリメートルの z 方向測定レンジ 高いXY分解能 アプリケーションに合わせた対物レンズの選択 拡張された機能を持つコンパクトなフットプリント ノイズが大きく測定が難しい製造ラインの環境などにおいても、オプションの ECT (Environmental Compensation Technology) を使うことによって、信頼性の高い正確な測定を実現します。 製造や研究の分野において、Micro.View は高い精度で設計された表面を測定するためのコストパフォーマンスに優れた品質を管理するための測定器です。