光学プロフィロメータ TopMap Metro.Lab

多目的3D

ポリテックのMetro.Labは、深い測定深度とナノメートル分解能を有する高精度な白色光干渉計（コヒーレンス走査干渉計）です。柔らかく繊細な材料の、広い範囲における平坦度、段差、平行度の非接触測定に最適です。 Metro.Labの測定深度は最大70 mmであり、測定が困難と思われる場合も、サブナノメートル分解能での測定を実現します。 Metro.Labは研究室でも生産工程でも使用できます。また接触式測定システムを使用して実行していた測定案件にも、使用できます。さらに他のTopMapシステムと同様に、オープン ソフトウェア アーキテクチャを採用しており、ルーチンタスクやユーザ独自のインタフェースを簡単にプログラミングできます。 概要 白色光干渉計原理に基づく非接触測定 テレセントリック光学系のため、例えばドリル穴のような急峻な形状の測定も可能 最大 70 mm の深い測定深度 広い範囲の面の迅速な測定が可能 拡張モデルでは最大約 80 x 80 mm の測定範囲を実現 自動化された使いやすいソフトウェア、DIN / ISO に準拠 異なる反射条件の面の測定も可能 防塵 / 防振保護されたワークステーションに統合可能