粉末から薄膜解析までを1つの検出器で対応できる、次世代の2次元半導体検出器
0次元/1次元/2次元すべての測定モードをカバー
1台の検出器で2次元だけでなく1次元、0次元検出器としての機能もサポートし、検出器をアプリケーションに応じて交換する必要がありません。粉末の高速測定から薄膜の2次元測定まで、1つの検出器で対応できます。
バックグラウンドを極限までカット
個々のピクセルに2個のコンパレーターが内蔵されており、Low側の閾値は電気ノイズや蛍光X線によるバックグラウンドの上昇を低減し、High 側の閾値は宇宙線や連続線などのノイズとなる原因を除去します。これによりS/Nの優れたデータを取得できます。
0次元/1次元/2次元すべての測定モードをカバー
1台の検出器で2次元だけでなく1次元、0次元検出器としての機能もサポートし、検出器をアプリケーションに応じて交換する必要がありません。粉末の高速測定から薄膜の2次元測定まで、1つの検出器で対応できます。
バックグラウンドを極限までカット
個々のピクセルに2個のコンパレーターが内蔵されており、Low側の閾値は電気ノイズや蛍光X線によるバックグラウンドの上昇を低減し、High 側の閾値は宇宙線や連続線などのノイズとなる原因を除去します。これによりS/Nの優れたデータを取得できます。
広いダイナミックレンジ
2つの16bitデジタルカウンターを内蔵し、これらを結合して1つのカウンターとして動作させることで、31bitの高計数カウンターとして使用することが可能です。この31bitモードにより、広いダイナミックレンジを必要とするような測定であってもアッテネーターを使用せずに測定できます。
優れた位置分解能
ピクセルサイズが100×100µm2と非常に小さいため、優れた位置分解能を実現しています。短時間の1次元測定でも十分な強度の回折パターンを得ることができます。
ゼロデッドタイムで高速測定を実現
2つのカウンターを計数/読み出しと交互に切り替えることにより、データ読み出しにかかるデッドタイムを実質ゼロにできます。そのため、シャッターレス測定による連続した時分割測定が可能となり、in situ(その場)測定にも最適です。
広域逆格子空間マッピングも短時間で完了
露光モードによる2 次元測定の他に、2 次元TDIスキャンによる測定が可能です。この測定では、スキャン中に有効検出面積分のデータが積算されるため、微弱な回折線であっても強度の高い2次元データとして像を得ることができます。この機能を利用することにより、広範囲にわたる逆格子点の情報を高速に測定できます。