走査型蛍光X線分析装置
下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置
アプリケーションの共有化が容易
上面照射タイプZSX Primus IV と下面照射タイプZSX Primus IVi とのハード・ソフトウェアの共通プラットフォーム化によって両機種および同じ機種間でアプリケーションの共有化が容易に行えます。
走査型蛍光X線分析装置
下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置
アプリケーションの共有化が容易
上面照射タイプZSX Primus IV と下面照射タイプZSX Primus IVi とのハード・ソフトウェアの共通プラットフォーム化によって両機種および同じ機種間でアプリケーションの共有化が容易に行えます。
高度な自動判断機能を搭載したSQX分析
SQX分析は定性分析結果を用いて定量分析を行うスタンダードレスFP分析です。
・重元素から発生する高次線の影響を評価し、最適な測定条件を自動選択して、より正確なSQX分析を実現
・EZスキャンに微量元素を検出する定角測定設定モードを追加
・EZスキャンに測定時間2分以内の超高速モードを搭載
・多層膜試料のスクリーニング分析に対応
・任意の試料フィルムを試料フィルム補正に追加可能
・SQX散乱線FP分析(粉末・ポリマー用)が30mm径にも対応
・SQX再計算時にSQX散乱線FP分析への変更が可能
ヘリウム雰囲気への迅速な置換
試料室と分光室の間に真空隔壁を追加することによりヘリウム雰囲気への置換時間を短縮できます。また、液体試料ホルダー検出機構の追加により真空雰囲気へ液体試料を導入間違いがなくなり安心して測定できます。
軽元素用ガスシールド型プロポーショナルカウンター S-PC LE
ガスシールド型検出器で分析におけるガス排出はゼロ。 検出器用ガスボンベは設置不要です。