X線回折計 XtaLAB Synergy-ED

研究所用

化学者や結晶学者がすぐに使える電子回折による構造解析統合プラットホーム XtaLAB Synergy-ED 新たに開発されたサブミクロン結晶用電子回折統合プラットフォームです。データ測定から三次元分子構造の決定まで、シームレスなワークフローを提供します。XtaLAB Synergy-ED は、リガクと日本電子のコア技術の有機的な統合の結果です。リガクの高速高感度検出器HyPix-EDと、測定から構造解析までを包括するソフトウェアCrysAlisPro ED、日本電子において長年にわたり磨き上げられてきた、電子線発生・制御技術が、有機的に統合されています。 新たに開発されたサブミクロン結晶用電子回折統合プラットフォームです。データ測定から三次元分子構造の決定まで、シームレスなワークフローを提供します。XtaLAB Synergy-ED は、リガクと日本電子のコア技術の有機的な統合の結果です。リガクの高速高感度検出器HyPix-EDと、測定から構造解析までを包括するソフトウェアCrysAlisPro ED、日本電子において長年にわたり磨き上げられてきた、電子線発生・制御技術が、有機的に統合されています。 本製品のカギとなる特徴は、あらゆる研究者が気軽に電子回折構造解析を行えるプラットフォームであるという点です。XtaLAB Synergy-EDは、電子顕微鏡に精通していない化学者や結晶学者でも、すぐに使えるシステムとなっています。 XtaLAB Synergy-EDは、構造化学分野において、より小さい結晶による構造決定に対するニーズの高まりを受け、開発されました。単結晶Ｘ線構造解析で扱える最小の結晶サイズは１ミクロン程度であり、実用的な時間で測定するには、最高輝度のＸ線源と低ノイズの検出器を備えた、最上位機種が必須です。 一方近年では、数百ナノメートル程度の極微小結晶しか得られない物資の構造決定のニーズが高まっています。2018年以来、新しい分析手法であるMicroEDが急速に発達してきています。MicroEDはこれまで分析用透過型電子顕微鏡の一機能を利用して、ナノサイズの結晶から三次元分子構造を導き出す手法として発展してきました。 MicroEDを推し進めてきた研究者たちは、これまで分析用透過型電子顕微鏡と電子顕微鏡用ソフトウェアで回折イメージを取得し、一般公開されているＸ線構造解析用の汎用データ処理ソフトウェアを用いて回折強度データを抽出し、構造解析を行ってきました。 汎用の高分解能透過型電子顕微鏡では、高分解能の透過像取得用のセッティングと電子回折用のセッティングの切り替えには時間がかかるため、共用するには無理があります。