X線回折計 XtaLAB Synergy-ED

研究所用

研究者がすぐに使える電子回折統合プラットフォーム XtaLAB Synergy-EDは，リガクの単結晶X線構造解析の要素技術と日本電子の透過型電子顕微鏡の要素技術が結集して作られた，全く新しい電子回折統合プラットフォームです。単結晶X線構造解析の下限であるミクロンの壁を突破し，サブミクロン結晶の測定が可能となりました。データ測定から構造解析までを包括するCrysAlisPro for EDによりシームレスなワークフローを提供します。 XtaLAB Synergy-EDは，単結晶X線結晶構造解析では測定することが困難なサブミクロンサイズの結晶から構造解析を行うことができる電子回折統合プラットフォームです。 XtaLAB Synergy-EDを使用することでこれまで必須とされてきた電子顕微鏡やデータ処理ソフトウェアへの習熟は不要です。データ測定から結晶構造の決定まで、シームレスなワークフローを提供します。 日本電子との共同開発 リガクと日本電子は，サブミクロンサイズの結晶からなる物質の構造解析のニーズの高まりを受け，本装置の共同開発に至りました。リガクの高速高感度検出器HyPix-EDと，測定から構造解析までを包括するソフトウェアCrysAlisPro for ED，日本電子において長年にわたり磨き上げられてきた，電子線発生・制御技術が統合されています。 高速高感度検出器HyPix-ED １光子検出型ハイブリッドピクセル検出器（HPC）の電子線検出用真空対応HyPix-EDを標準搭載しています。S/Nの優れたノイズフリーなデータを高速に測定可能です。 CrysAlisPro for ED 単結晶X線構造解析用として定評のあるCrysAlisProをベースとして，電子回折用に最適化しました。結晶の選別からデータ測定・データ処理，構造解析までを1つのソフトウェアで実行できます。単結晶X線構造解析を利用してきた研究者であれば，導入後，すぐにSynergy-EDを使用して構造解析を始めることが可能です。また，自動構造解析プラグインAutoChemも搭載しており、データ測定と並行して自動で構造解析を行います。 統合されたプラットフォーム データ測定から結晶構造の決定まで，シームレスなワークフローを提供します。 電子回折専用装置 高分解能透過型電子顕微鏡の設定と電子回折の設定を切り替える際に発生する無駄な時間を大幅に削減し、効率的な作業を可能にします。 サブミクロンサイズの結晶を測定可能 単結晶X線構造解析では測定することができない，サブミクロンサイズの極微小結晶でも構造を決定することができます。 電子顕微鏡への習熟不要 これまで単結晶X線構造解析を利用してきた研究者であれば，すぐに使い始めることができます。