X線回折計 SmartLab SE

研究所用

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載し、究極の自動化を実現 経験がなくてもさまざまな粉末Ｘ線回折測定ができる 強力なユーザーガイダンス機能を備えたＸ線分析統合ソフトウェア「SmartLab Studio II」が、測定から解析までを支援します。リガクの分析ノウハウに基づいて、ソフトウェアが最適な光学系を提案し、光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。粉末プロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末Ｘ線回折測定が可能です。 経験がなくてもさまざまな粉末Ｘ線回折測定ができる 強力なユーザーガイダンス機能を備えたＸ線分析統合ソフトウェア「SmartLab Studio II」が、測定から解析までを支援します。リガクの分析ノウハウに基づいて、ソフトウェアが最適な光学系を提案し、光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。粉末プロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末Ｘ線回折測定が可能です。 広角粉末Ｘ線回折プロファイルをわずか数分で測定 高分解能・高速1次元Ｘ線検出器D/teX Ultra 250を搭載したエントリーモデルは、高速集中法測定に対応しています。バックグラウンドレベルを抑えた測定が可能で、強度積算効果により微量成分の検出も容易です。 2次元Ｘ線回折測定で拡がる世界 ハイブリッド型多次元ピクセル検出器HyPix-400を搭載した上位モデルは、微小部やIn-situ測定に対応しています。さらに、粒径や配向といった試料状態の情報が容易に取得できます。今まで気づかなかったことが、粉末Ｘ線回折測定で得られる知見の幅を大きく拡げます。 あらゆる測定シーンに対応 光学系選択ユニット（Cross Beam Optics）と光学系・試料位置自動調整プログラムが、簡単、かつ迅速な光学系切り替えを実現します。分析の目的や試料の形状jに応じて、最適な光学系・アタッチメントを選択できます。 さまざまなアプリケーションを実現 反射法・透過法による測定、ポリキャピラリを用いた微小領域測定、小角Ｘ線散乱測定、残留応力・極図形測定など、さまざまなアプリケーションを実現する多彩な光学系配置を用意しました。SmartLab SEはそれらの光学系調整も自動で実現します。