XRF分光器 NEX DE VS

EDXRFX線検査用

粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感度良く分析できます。 粉末Ｘ線回折の補助装置として リガク製統合粉末Ｘ線解析ソフトウェアPDXLの定性分析の自動検索設定画面から、NEX DEの測定結果ファイルを読み込むことができます。NEX DEで得られた元素情報が検索条件に反映されます。 Na～Uまで分析が可能 研究開発から工程管理まで汎用的に使用できます。 FP法によるスタンダードレス分析 バルクFP法、薄膜FP法を標準で搭載していますので、標準試料が用意できない試料に対しても簡単に定性・定量分析が行えます。また，通常の検量線法による定量分析も可能です。 エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置で、製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適しています。測定できる元素範囲はNaからUで、ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。少量粉末、異物、RoHS分析用に小径コリメータ及び試料観察用カメラを含む仕様と、汎用用途向けとして、小径コリメータ及びカメラを含まない仕様から選択できます。