走査電子顕微鏡 VEGA

実験用素材研究用検査用

TESCAN VEGA Compactは、簡単な操作で高画質な画像や組成分析（EDS）を短時間で得られることを重視する研究室向けの分析用SEMソリューションで、エントリーレベルでも妥協する必要はないことを証明します。 TESCAN VEGA Compactは、形態や元素のデータを効率的に取得するために最も重要なコンポーネントのみを含むシンプルな構成になっており、ラボでの占有面積を小さくすることができます。TESCAN VEGA Compactは、冶金断面、溶接構造、プリント基板など、産業、材料科学、半導体で一般的な大型サンプルに対応できるため、現在の材料検査、品質管理、故障解析のニーズだけでなく、将来の分析ニーズにも対応できる優れた選択肢です。 TESCAN VEGA Compactは、TESCANのすべてのSEMおよびFIB-SEM装置の心臓部であるTESCAN Essence™という独自のフル機能GUIで操作します。TESCAN VEGA Compactで学んだオペレーターは、他のTESCAN製顕微鏡への移行や、ラボ内の他の装置のGUIに合わせたEssenceソフトウェア環境の一部の機能の適応が容易にできます。 主なメリット VEGA Compactの大型チャンバーは、複数のサンプルや大きなサンプルを分析するためのスペースを提供し、信頼性の高いEDS結果を得るための真の高真空を提供するため、サンプルをより速く処理します。 TESCANのオプションであるEssence™ EDSのオーバーレイ機能により、簡単に組成データを取得し、SEM画像に直接関連付けることができます。