走査電子顕微鏡 MAGNA

STEM素材研究用卓上

サブナノメートルスケールのナノ材料特性評価用UHR SEM 次世代材料（触媒構造、ナノチューブ、ナノ粒子、その他のナノスケール構造など）の高分解能・高コントラスト画像化 サブナノメートルスケールのSEM/STEM計測に適した優れたプラットフォーム 電子ビームの高速セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により最適なイメージング条件を保証 マルチ検出器システム TriBE™ および TriSE™ による試料のナノキャラクタリゼーション 直感的に操作できるソフトウェアモジュラープラットフォームにより、ユーザーのスキルレベルに関係なく簡単に操作できるように設計されています。