FIB顕微鏡 AMBER X

FIB/SEMライフサイエンス用生物学

TESCAN AMBER Xは、超大容量分析およびハイスループットのクライオアプリケーションに対応した高性能集束プラズマイオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）です。iFIB+カラムを搭載したTESCAN AMBER Xは、Ga FIBシステムで行っていたクライオFIBアプリケーションを、プラズマFIB特有の超高速材料除去速度でわずかな時間でサポートします。従来のGa FIBミリングでは数時間かかっていた、サンプルの奥深くに隠された特徴を数分で露出させることができます。 AMBER X cryoは、骨や貝殻のような硬い生体材料に適しており、FIBシステムに期待される精度で簡単に切片を作成することができます。TESCAN独自のアーチファクト防止法により、軟組織や多孔質材料、硬度の異なる領域の3D FIB-SEMトモグラフィーを、画像後処理で人工縞を除去することなく実現できます。AMBER Xの優れたFIB視野は最大1mmをカバーし、断面や大容量の解析が可能です。 AMBER X cryoは、ライフサイエンスとマテリアルサイエンスの両方に対応する中核施設、イメージングおよび顕微鏡センターに最適で、さまざまな材料や試料を常温または極低温で扱うことができる汎用性を備えています。 主な特長 iFIB+プラズマFIBカラムにより、試料除去や試料薄片化を迅速に行うことで、クライオET試料作製ワークフローにおける最大のボトルネックを解消 高性能プラズマFIBとハイスループットなクライオ電子顕微鏡試料作製に不可欠な最適化されたワークフローにより、クライオ・オングリッド・ラメラ作製を数分で実行可能