SAXS回折計 Nano-inXider

WAXS斜入射小角X線散乱研究用

スマートナノスケールキャラクタリゼーション 試料から結果までダイレクトに 高精度・高ダイナミックレンジ測定 原子からナノスケールまでの同時測定が可能 低コストの所有権 研究を加速させる ナノインザイダーは、固体、液体、ゲル、粉体、薄膜にかかわらず、サンプルのナノ構造について答えを出します。 アプリケーションの例は以下の通りです。 数ナノメートルから250ナノメートル以上までの粒度分布測定 液晶、ブロック共重合体、ナノドラッグデリバリーシステムなどの自己組織化材料のメソフェーズ分析 界面活性剤、溶液中のタンパク質、ハイドロゲルなどの生体材料のナノ構造解析 半結晶性高分子の結晶化速度やラメラ構造の応力・温度依存性解析 繊維やフィルムの配向解析 ナノインザイダーのスマートデザインは、試料をチャンバーに入れるだけです。そして、結果を得ることができます。シンプルでスピーディです。 サンプル 簡単です。試料をチャンバーに入れるだけ。 ユーザーが操作することなく、装置は自動的にアライメントを行います。 測定 データ取得のワークフローは自動的で高速です。X線散乱データは自動的に正規化され、ユーザーによるキャリブレーションは必要ありません。これは、独自の固定式デュアルディテクター構成を使用した完全電動装置に組み込まれた強力なソフトウェアスイートによって実現されています。 分析 装置によって瞬時に表示される正確な散乱データは、その場で迅速なサンプルフィードバックに使用したり、XSACTソフトウェアを使用してさらに高度な分析を行うことができます。豊富な解析機能により、数回のクリックでナノ構造パラメータが得られます。