分光計測定装置 DSR300

制御電圧卓上

DSR300シリーズマイクロナノ分光感度波長測定システムは、低次元材料に特化し、高精度な分光スキャニングと光電流スキャニング測定を提供します。40mの検出スポットにより、最小サイズ100μmのサンプルを測定できます。超高安定光源は高精度を提供します; 複数の光源はシステムにさまざまな検出器を測定するために統合することができます。フレンドリーなソフトウェアは使いやすく、自動的に装置を操作するように制御します。 機能 スペクトル応答性 外部量子効率 バイアス電圧ITカーブ LBICマッピング 応答直線性テスト 主な技術パラメーター 光源 キセノン光源 スペクトル範囲: 250 - 1800 nm 不安定性： ＜1 スーパーコンティニューム光源 スペクトル範囲400 - 2400 nm 周波数: 0.01 200 MHz パルス幅：100 ps CWレーザー オプション波長：405nm、532nm、633nm nm、808nm、980nm； 不安定性：＜1 パルスレーザー オプション波長：375nm、405nm、488nm nm, 785 nm, 976 nm; パルス幅：100 ps 周波数：1～20 MHz マイクロレンズ 10倍対物レンズ（標準） ワークディスタンス＞17mm NA: 0.42 スペクトル範囲350 - 800 nm 50倍対物レンズ ワークディスタンス＞17mm NA: 0.42 スペクトル範囲480 - 1800 nm 50x UV対物レンズ ワークディスタンス＞12mm NA: 0.42 波長範囲： 240 - 500 nm 40倍反射対物レンズ ワークディスタンス＞7.8mm 反射率＞0.5 スペクトル範囲：200 nm - 20 um データ収集ユニット ロックインアンプ 周波数： 20 Hz - 1 KHz ドリフト： ＜ 0.1°/℃（10 kHz 以下） 電圧または電流入力モード 1nV ～ 1V フルスケール感度 電流ゲイン 106 または 108 V/A ダイナミックリザーブ >100 dB 表示：X、Y、R、θ