Hitachiの光学顕微鏡
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倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 1.2, 0.7, 0.4, 0.8 nm
... kV/オプション)を保証 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 コンタミネーションの影響を軽減させた超高真空試料室 さまざまな設置環境下でも、高いパフォーマンスを実現するための高剛性フレームと耐騒音カバー サイドエントリー方式(試料交換位置が高分解能観察位置)による迅速かつ高分解能観察 SU9000IIの持つ、低収差のインレンズ型対物レンズおよびSTEM観察に適した光学系の構造はSEM/STEMの観察手法 ...
倍率 : 50,000, 60,000, 10,000, 30,000, 15,000 unit
分解能: 4, 5 nm
... 実現。 新開発のユーザーインターフェース、電子光学系が高性能をさらに身近にします。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品(生産性向上設備(A類型))です。 特長 FlexSEM 1000 IIは、新設計の電子光学系と高感度検出器により、加速電圧20 kVで像分解能 4.0 nmを実現しています。新開発のユーザーインターフェースは、明るさやフォーカスの自動調整機能の高速化により、短時間で多彩な観察を可能にします。また、電子顕微鏡の欠点であった視野探しの困難さを容易にする新ナビゲーション ...
倍率 : 10 unit - 250,000 unit
重量: 54 kg
長さ: 617, 614 mm
もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品(生産性向上設備(A類型))です。 Camera Navi*を使えば、こんなに簡単 カメラナビ画像で迷わず視野探し、MAP機能で観察をサポート 基本操作はこんなに簡単・スピーディ 画像観察までわずか3分。 目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。 Report ...
倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.4, 0.7 nm
... と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 日立FE-SEMの最上位機種 SU9000II ...
Hitachi High-Technologies
倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.6, 0.8, 0.9 nm
... 高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 ショットキーFE電子銃搭載により、極低加速電圧観察から大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格:お問い合わせください 取扱会社:株式会社 ...
Hitachi High-Technologies
倍率 : 10 unit - 250,000 unit
重量: 54 kg
幅: 330 mm
もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品(生産性向上設備(A類型))です。 詳しくはこちら 価格:お問い合わせください 取扱会社:株式会社 日立ハイテク 観察・分析のフレキシビリティ 多彩なデータをオートで取得。切替も迅速! Camera ...
Hitachi High-Technologies
分解能: 4, 60, 0.7, 50, 1.5 nm
「Ethos」は、日立ハイテクのコア技術である高輝度冷陰極電界放出型電子銃と新開発の電磁界重畳型レンズにより、低加速電圧での高分解能観察を可能とし、リアルタイムFIB加工観察と両立しました。 さらに、SEMカラム内に3つの検出器を搭載することで、二次電子による形状コントラストや反射電子による組成コントラストを同時観察でき、ナノメータースケールの構造物を見逃すことなく観察・解析し、特定箇所を正確に捉えたFIB加工を可能としています。 また新設計の大容量試料室には、EDS*1やEBSD*2などの各分析装置に対応する多数のアクセサリーポートを設置するとともに、直径150 ...
Hitachi High-Technologies
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サ-ビス改善のご協力お願いします:
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