Hitachiの研究用顕微鏡

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FE-SEM顕微鏡
FE-SEM顕微鏡
SU9000II

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.7, 1.2, 0.4 nm

コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
SU8600

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.6, 0.7 nm

... こうしたニーズに応え、2021年12月に発売したSU8600/SU8700では日立ハイテクがこれまで培ってきた高分解能FE-SEMとしての性能に加えて、大量データ取得を支援する自動化機能を強化しています。 今後、多くのデータを必要とするデータ駆動型研究開発の進展が予想される中、本製品群により大量データの短時間取得やユーザーの負荷低減を支援します。 電子光学系の自動調整機能を搭載 FE-SEMの観察や分析では対象や目的に応じて観察条件を変更し、その度に電子光学系条件を調整する作業が生じます ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
FE-SEM顕微鏡
FE-SEM顕微鏡
SU7000

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.9, 0.8 nm

低加速電圧での高い像質、複数信号同時取得などに加え、広域視野観察、In-Situ観察など現在のFE-SEMでは高い能力と多くの機能が要求されています。 SU7000は多様化するニーズにおいて情報最大化を目ざして創られた、「新しいSEM」です。 SU7000がもたらす世界を体感してください。 * 装置写真はオプション付属の状態です 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品(生産性向上設備(A類型))です。 キーコンセプト 1.多彩なイメージング能力 広視野全体像から表面微細構造まで、SU7000は多様な信号の迅速取得を目ざして設計されました。 複数の二次電子信号・反射電子信号が同時に取得できるようにデザインされた電子光学系/検出系はより短い時間で多くの情報をユーザーにもたらします。 2.マルチチャンネルイメージング イメージングニーズの増加に伴い、装着される検出器の数も増加していますが、表示もそれに見合う機能が必要です。 SU7000では最多6チャンネルでの信号同時表示/保存が可能です。 取得情報の最大化を強力にアシストします。 3.多様な試料形状・観察手法に対応 大型試料観察 低真空観察 クライオ観察 その場観察 などに対応するための試料室や真空系を備え、多様な観察手法に応えます。 4.マイクロアナリシス ショットキーエミッター搭載の電子銃による最大200nAの照射電流は余裕を持って各種マイクロアナリシスに対応します。 EDXをはじめとしたX

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FE-SEM顕微鏡
FE-SEM顕微鏡
SU5000

SEMを初めて使用されるユーザーに対しても「美しい像が得られる体験」、そして一人で習熟・熟達していける「成功体験」、熟達したユーザーにも豊富な機能で提供する新たな「体験」。 EM Wizardはさまざまな“User Experience”を提供し、新たなSEMの楽しさ、面白さを拓きます。 あらゆるユーザーに高分解能・再現性・スループットを提供する、新開発ユーザーインターフェース「EM Wizard」 EMWizadのスタンダードモードでは使用される頻度の高い5つのビーム/検出器条件を用意。 選択画面から条件を選択することで光軸調整などの作業なしにベストな光学条件で画像を取得 サンプルへの制限を極力低減したデザイン 大型試料(~200 ...

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光学顕微鏡
光学顕微鏡
FlexSEM 1000 II

倍率 : 60,000, 50,000, 10,000, 15,000, 30,000 unit
分解能: 4, 5 nm

... 1000 IIは、新設計の電子光学系と高感度検出器により、加速電圧20 kVで像分解能 4.0 nmを実現しています。新開発のユーザーインターフェースは、明るさやフォーカスの自動調整機能の高速化により、短時間で多彩な観察を可能にします。また、電子顕微鏡の欠点であった視野探しの困難さを容易にする新ナビゲーション機能「SEM MAP」を搭載し直観的な視野移動を実現しています。 卓上設置可能なコンパクトサイズ*1でありながら、分解能4.0 ...

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STEM顕微鏡
STEM顕微鏡
HF5000

倍率 : 20 unit - 8,000,000 unit
分解能: 0.1, 0.08 nm

... 走査透過電子顕微鏡「HD-2700」搭載の日立製球面収差補正器や、その自動補正機能、収差補正SEM像やシンメトリーDual SDDなどの特長を受け継ぐとともに、透過電子顕微鏡HFシリーズで培ってきた技術を結集・融合しました。 ハイエンドユーザーをはじめ幅広いユーザー向けに、サブÅレベルの空間分解能と高分析性能を、より多様な観察・分析手法とともにご提供します。 0.078 nmのSTEM空間分解能や、高試料傾斜・大立体角EDXを、シングルポールピースで実現しました。 走査透過電子顕微鏡「HD-2700 ...

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透過型電子顕微鏡顕微鏡
透過型電子顕微鏡顕微鏡
HT7800 series

倍率 : 600,000, 800,000, 1,000,000 unit
分解能: 0.14, 0.19, 0.2 nm

透過電子顕微鏡(以下、TEM:Transmission electron microscope)は、医学・生物学分野での研究・診断から食品・高分子・化学・ナノ材料の研究・開発まで、幅広い分野で活用されており、微細構造の形態観察に必要不可欠なツールとなっている。今回、様々な分野に対応するため、120 kV透過電子顕微鏡(TEM)HT7800シリーズを開発した。 本シリーズでは、高コントラストを極めたレンズを搭載し、広視野高コントラスト観察を実現するHT7800と、クラス最高レベルの分解能をもつ ...

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FA-STEM顕微鏡
FA-STEM顕微鏡
SU5000

SEMを初めて使用されるユーザーに対しても「美しい像が得られる体験」、そして一人で習熟・熟達していける「成功体験」、熟達したユーザーにも豊富な機能で提供する新たな「体験」。 EM Wizardはさまざまな“User Experience”を提供し、新たなSEMの楽しさ、面白さを拓きます。 価格:お問い合わせください 取扱会社:株式会社 日立ハイテク あらゆるユーザーに高分解能・再現性・スループットを提供する、新開発ユーザーインターフェース「EM ...

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FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡
NX9000

分解能: 2.1, 1.6 nm

... 傾斜断面観察では避けられなかった、断面SEM像の縮みや連続画像収集時の視野逃げを回避。 本来の構造に忠実な画像が安定して得られることから、精度の高い三次元構造解析を実現。 また、FIB加工断面(SEM観察断面)が試料表面と平行になるため、光学顕微鏡画像などとの相関をとるうえでも有利。 Cut&See® 生物組織や半導体から鉄鋼やニッケルなどの磁性材料まで、低加速電圧での高分解能・高コントラスト観察に対応。 FIB加工とSEM観察の間の装置条件の変更も不要で、高スループットで連続断面 ...

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FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡
NX2000

分解能: 60, 4, 2.8, 3.5 nm

最先端デバイスや高機能ナノ材料の評価・解析において、FIB-SEMはなくてはならないツールとなっています。 近年では、対象構造の微細化に伴い、より薄く、試料加工時のアーティファクトを避けた、TEM薄膜試料作製へのニーズが高まっています。 日立ハイテクでは、定評ある高性能FIB技術と高分解能SEM技術に、姿勢制御とトリプルビーム®*1(オプション)を組み合わせたNX2000を開発しました。 価格:お問い合わせください 取扱会社:株式会社 日立ハイテク 特長 高コントラスト・リアルタイムSEM加工終点検知により、20 ...

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