Malvernの分光器

科学者が管理するXRF 研究と教育のために操作が簡単で柔軟な分析装置をお探しですか？ Epsilon 1はあらゆる組織の分析装置にとって理想的な装置です。 非常に高度な分析機能により単純元素を特定し定量化できます。 製造および品質コントロールのために広く業界で使用されていますが、多くの場合、授業では扱われない分析技術を学生に紹介できます。 大学の活性化や、最先端の研究の強化を求めるのであれば、Epsilon 1は、簡単に操作できる小型の安全なX線装置です。化学物質も使用する必要はありません。 ...

ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置 蛍光X線分析装置(XRF)は、固体、液体、粉末など、さまざまな物質の元素を分析する事が可能です。中でも波長分散型はより高精度を求められる分析に適しております。当社の波長分散蛍光X線分析装置(WDXRF) Zetiumは、最も厳しい品質管理と研究開発用途に対応するよう設計され、BeからAmの元素領域をより高感度に分析できる革新的な機能を搭載しています。 WDXRFのプラットフォームに、エネルギー分散蛍光X線分析装置（EDXRF）の技術を統合可能なSumXcore技術が組み込まれています。この独自の組み合わせは、さまざまな環境での分析能力、速度、およびその柔軟性においてZetiumを比類なき存在にしています。 ...

... 管理やサンプルの高スループット実行のために、化学組成の非破壊解析を数秒で実行する必要がありますか？ 最大28種類の元素がppmから100%までの濃度範囲で同時に測定される場合、Malvern Panalytical Axios FAST同時WDXRF分光計は理想的なソリューションです。 正確なロバスト解析、経験の浅いスタッフでも簡単なオペレーション、高い稼働率は、低い所有コストと密接なつながりがあります。 緊急を要するアプリケーションで速く結果を得る わずか数秒で解析結果を得ることができるため ...

... 組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。 維持費の削減 Epsilon 4では、高価な酸、ガス、 ドラフト(ICPおよびAAS)を使用する必要がありません。 電気の商用電源さえあれば使用できますが、サンプル中の軽元素の感度を高めるためにヘリウムを使用する場合があります。 また、XRF分光計の個々のコンポーネントは、摩擦や熱にさらされることはないため ...

2830 ZT 先進の半導体薄膜測定ソリューション 2830 ZT波長分散型蛍光X線(WDXRF)ウェハーアナライザは、膜厚・組成を測定するための究極の機能を提供します。 2830 ZTウェーハアナライザは半導体およびデータストレージ業界向けに開発されており、最大300 mmの各種ウェーハの層の組成、厚さ、ドーパントレベル、表面の均一性を測定できます

波長: 350 nm - 2,500 nm

... 近赤外線(NIR)分光計において「最高」として長く認識されているASDのFieldSpec分光光度計シリーズと同じ分光計設定を使用しています。 この最先端のNIR技術を採用することで、これらの実験装置は、完璧な精度でさまざまな材料を迅速に非破壊測定することができます。 ASD LabSpec分光計は、さまざまな分析用途に簡単に応用できます。 ...

波長: 350 nm - 2,500 nm

ASD LabSpec® 4 Hi-Res分析装置 優れたスペクトル分解能による鮮明な特性認識 ASD LabSpec® 4 Hi-Res分析分光計は、正確な検出と識別のために高分解能のスペクトルデータを必要とする鮮明なスペクトル特性で特徴付けられている材料を分析するために設計されています。