TESCAN の卓上顕微鏡

倍率 : 1,000,000 unit

... TESCAN VEGA Compactは、TESCANのすべてのSEMおよびFIB-SEM装置の心臓部であるTESCAN Essence™という独自のフル機能GUIで操作します。TESCAN VEGA Compactで学んだオペレーターは、他のTESCAN製顕微鏡への移行や、ラボ内の他の装置のGUIに合わせたEssenceソフトウェア環境の一部の機能の適応が容易にできます。 主なメリット VEGA Compactの大型チャンバーは、複数のサンプルや大きなサンプルを分析するためのスペースを提供し、信頼性の高 ...

... TESCAN VEGAの第4世代タングステンフィラメント電子源搭載走査型電子顕微鏡（SEM）は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、VEGA SEMは品質管理、故障解析、研究所のルーチン材料検査における効率的な分析ソリューションとなります。 完全に統合されたTESCAN ...

... TESCAN MIRAのFEGショットキー電子放出源搭載の第4世代走査型電子顕微鏡（SEM）は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、MIRA SEMは品質管理、故障解析、研究所における日常的な材料検査のための効率的な分析ソリューションとなります。 TESCAN Essence™ ...

... ナノスケールでの材料特性評価のための無電界分析型UHR SEM あらゆる種類の材料をナノスケールで妥協なく特性評価できる 低ビームエネルギーで最大限の表面形状を得ることができるため、材料の特性評価に最適 ビームに敏感なサンプルや非導電性サンプルのイメージングに最適 電子ビームの完全自動セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により、最適なイメージング条件が保証されます。 Wide Field Optics™設計により、光学ナビゲーションカメラを追加することなく、2倍の低倍率でサンプル上の直感的なライブSEMナビゲーションが可能です。 独自のインビームマルチディテクター設計により、角度およびエネルギー選択的なBSE検出を実現 直感的なソフトウェアモジュラープラットフォームは、ユーザーのスキルレベルに関係なく簡単に操作できるように設計されています。 ...

... サブナノメートルスケールのナノ材料特性評価用UHR SEM 次世代材料（触媒構造、ナノチューブ、ナノ粒子、その他のナノスケール構造など）の高分解能・高コントラスト画像化 サブナノメートルスケールのSEM/STEM計測に適した優れたプラットフォーム 電子ビームの高速セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により最適なイメージング条件を保証 マルチ検出器システム TriBE™ および TriSE™ による試料のナノキャラクタリゼーション 直感的に操作できるソフトウェアモジュラープラットフォームにより、ユーザーのスキルレベルに関係なく簡単に操作できるように設計されています。 ...

... 、いつでも関心領域の追加に戻ることができる。一方、特殊なチャンバー内ミクロトームを備えたSEMでは、電子顕微鏡の分野では異例の大きさ（ほぼ1立方ミリメートルのブロックを調べることができる）を解析することができます。これにより、細胞、組織、器官、生物の複雑な構造組織や、動物のコネクトームのような大きな距離の関係性を理解することができます。 基幹施設やイメージングセンターに設置される装置では、顕微鏡の柔軟性、スループット、使いやすさが最も重要です。そのため、TESCANのボリュームSEMは、短時間のトレーニング ...

... 極低温・常温構造解析のための万能Ga FIB-SEM TESCAN AMBER for Life Sciencesは、生体試料の構造解析に多機能を提供する最先端のGa FIB-SEMソリューションです。Ga FIBの高精度ミリング機能とBrightBeam™ UHR SEMをシームレスに組み合わせ、常温および低温の両方で、さまざまな生物試料の表面下を探索することができます。TESCAN AMBERは、その優れた設計により、研究センターや研究機関の多様で困難な要求に効果的に応えることができます。 TESCAN ...

... cryoは、ライフサイエンスとマテリアルサイエンスの両方に対応する中核施設、イメージングおよび顕微鏡センターに最適で、さまざまな材料や試料を常温または極低温で扱うことができる汎用性を備えています。 主な特長 iFIB+プラズマFIBカラムにより、試料除去や試料薄片化を迅速に行うことで、クライオET試料作製ワークフローにおける最大のボトルネックを解消 高性能プラズマFIBとハイスループットなクライオ電子顕微鏡試料作製に不可欠な最適化されたワークフローにより、クライオ・オングリッド・ラメラ作製を数分で ...