TESCAN の走査電子顕微鏡

倍率 : 1,000,000 unit

... TESCAN VEGA Compactは、TESCANのすべてのSEMおよびFIB-SEM装置の心臓部であるTESCAN Essence™という独自のフル機能GUIで操作します。TESCAN VEGA Compactで学んだオペレーターは、他のTESCAN製顕微鏡への移行や、ラボ内の他の装置のGUIに合わせたEssenceソフトウェア環境の一部の機能の適応が容易にできます。 主なメリット VEGA Compactの大型チャンバーは、複数のサンプルや大きなサンプルを分析するためのスペースを提供し、信頼性の高 ...

... TESCAN VEGAの第4世代タングステンフィラメント電子源搭載走査型電子顕微鏡（SEM）は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、VEGA SEMは品質管理、故障解析、研究所のルーチン材料検査における効率的な分析ソリューションとなります。 完全に統合されたTESCAN ...

... TESCAN MIRAのFEGショットキー電子放出源搭載の第4世代走査型電子顕微鏡（SEM）は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、MIRA SEMは品質管理、故障解析、研究所における日常的な材料検査のための効率的な分析ソリューションとなります。 TESCAN ...

... のための無電界分析型UHR SEM あらゆる種類の材料をナノスケールで妥協なく特性評価できる 低ビームエネルギーで最大限の表面形状を得ることができるため、材料の特性評価に最適 ビームに敏感なサンプルや非導電性サンプルのイメージングに最適 電子ビームの完全自動セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により、最適なイメージング条件が保証されます。 Wide Field ...

... サブナノメートルスケールのナノ材料特性評価用UHR SEM 次世代材料（触媒構造、ナノチューブ、ナノ粒子、その他のナノスケール構造など）の高分解能・高コントラスト画像化 サブナノメートルスケールのSEM/STEM計測に適した優れたプラットフォーム 電子ビームの高速セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により最適なイメージング条件を保証 マルチ検出器システム TriBE™ および TriSE™ による試料のナノキャラクタリゼーション 直感的に操作できるソフトウェアモジュラープラットフォーム ...

... サンプルの優先順位と特徴によって異なります。あらかじめ切片化され、連続切片の配列として基板上に集められた試料（アレイトモグラフィー）は、SEMで自動的にスキャンされ、3Dスタック画像を生成することができます。この方法では、繰り返しスキャンすることができ、いつでも関心領域の追加に戻ることができる。一方、特殊なチャンバー内ミクロトームを備えたSEMでは、電子顕微鏡の分野では異例の大きさ（ほぼ1立方ミリメートルのブロックを調べることができる）を解析することができます。これにより、細胞、組織、器官、生物の複雑 ...