光学プロフィロメータ

非破壊・非接触3次元光学式プロファイラー（3次元白色干渉型顕微鏡・表面形状粗さ計）ContourX-200は、高度な特性評価、カスタマイズ可能なオプション、使いやすさを完璧に融合させ、クラス最高の高速、高精度、再現性のある非接触3次元表面形状測定を実現します。ゲージ対応で設置スペースを選ばない小型のコンパクトサイズに加え、広域視野角(FOV)対応の 5メガピクセル(5MP)デジタルカメラと新型の電動XYステージにより、2D/3Dでの高分解能測定を実現しました。高いZ軸分解能と精度を可能にし、また、高い操作性能と解析機能を実現するソフトウェアVision64を搭載しています。ContourX-200は、従来の共焦点顕微鏡や一般的な光学式プロファイラーでは制限のある測定条件においても、ブルカー独自の白色光干渉法(WLI)技術により幅広い様々な業界にて、理想的な測定精度とパフォーマンスを提供します。 ...

NPFLEX™は、整形外科医療用インプラントや航空宇宙、自動車、および精密機械加工の各産業の大型試料を測定できる、最も柔軟性の高い非接触3D表面特性解析を提供します。また、接触型装置で可能な範囲を上回るレベルのデータ密度、分解能、および再現性で測定できるので、相補的テクノロジーまたはスタンドアロン計測ソリューションのどちらとしても理想的です NPFLEX は、 試料を破損することなく、さまざまな大きさや形状の試料を分析で きるように特別に設計されています。材料のタイプに左右されない ...

... ContourX-100光学式プロフィロメータは、クラス最高の価格帯で、高精度で再現性の高い非接触表面形状測定の新たな基準を打ち立てました。数十年にわたるブルカー独自の白色光干渉法（WLI）の技術革新を取り入れた合理的なパッケージで、2D/3Dの高分解能測定が可能です。次世代の機能強化として、新しい5MPカメラとステージの更新により、より大きなスティッチングが可能になりました。また、新しい測定モードUSIにより、精密機械加工面、厚膜、トライボロジー・アプリケーションの利便性と柔軟性がさらに向上しました。ContourX-100より優れた価値を持つベンチトップ・システムは他にありません。 業界最高水準 Z分解能 倍率に左右されることなく、常に正確な測定が可能。 比類のない 計測価値 測定能力に妥協することなく、合理的な設計を実現します。 ユーザーフレンドリー ソフトウェアインターフェース あらかじめプログラムされたフィルターや分析の豊富なライブラリに直感的にアクセスできます。 比類のない計測 WLIは、あらゆる目的に対して、常に究極の垂直分解能を提供します。 ContourX-100は、40年以上にわたる独自の光学技術革新の集大成であり、非接触表面計測、特性評価、イメージングにおける業界のリーダーです。このシステムは、3D ...

... ContourX-500光学式表面形状測定機は、高速で非接触の3次元表面形状測定が可能な世界で最も包括的な自動卓上システムです。ゲージ対応のContourX-500は、比類のないZ軸分解能と精度を誇り、ブルカーの白色光干渉計（WLI）フロアスタンディングモデルが業界で認められている利点を、はるかに小さな設置面積で提供します。精密加工表面や半導体プロセスのQA/QC測定から、眼科やMEMSデバイスの研究開発における特性評価まで、幅広い複雑なアプリケーションに対応するカスタマイズが容易です。 チップ/チルト 光学ヘッド トラッキングエラーを最小限に抑えながら、様々な角度で表面形状を測定します。 最先端の ユーザーインターフェース あらかじめプログラムされたフィルターや分析の豊富なライブラリに直感的にアクセスできます。 統合された 空気分離 スペース効率に優れたフットプリントで最高の測定精度を提供します。 卓越したベンチトップ計測のための設計 ブルカー独自のティップ/チルトヘッドは、生産セットアップと検査に比類ない柔軟性を提供します。オートチップ/チルト機能を顕微鏡ヘッド内の光路と連動させることで、ブルカーは傾きとは無関係に検査ポイントを視線に連動させました。この結果、オペレーターの介入を少なくし、最大限の再現性を提供します。その他のハードウェアの特徴としては、より大きなスティッチングが可能な革新的なステージデザインと、低ノイズ、より大きな視野、より高い横分解能を実現する1200x1000の測定アレイを備えた5MPカメラがあります。これらの機能と自動ステージングおよび自動対物レンズの組み合わせにより、ContourX-500は「オンデマンド測定」の研究開発に理想的に適している。 ...

DektakPro™は、55年にわたる表面測定の技術革新とトップクラスの技術を基に、触針式表面形状測定装置の性能に新たな基準を打ち立てました。このシステムは、この上ない使いやすさで最高品質のデータを提供します。 第11世代のDektak®システムの特長： 比類のない精度と4Å以上の繰り返し精度 測定・分析スピードの高速化 ブルカー独自の汎用性と使いやすさを備えた機能 最先端の研究や産業用アプリケーションを将来にわたってサポートするために必要な、最新の信頼性の高い触針式形状測定を提供できるのは ...

触針式プロファイリングシステムDektak XTLは、正確度、繰り返し性、再現性が極めて高く、幅広い用途に対応する計測システムです。350 mm x 350 mmまでのサンプルを搭載できるため、定評あるDektakシステムの性能を200 mmおよび300 mmウエハ製造にも活用できます。インターロックドアによる隔離機能を備えたDektak XTLは、要求の厳しい現在の生産環境に最適です。カメラ2台の構成により空間認識性能が上昇し、高度な自動化により製造スループットが向上します。 卓越した性能と使いやすさを兼ね備えたDektak ...

TopMap Micro.View は、操作性に優れたコンパクトな光学式形状測定器です。強力な計測ソリューションは、卓越した機能および優れたコストパフォーマンスを持っています。 100 ミリメートルの z 方向測定レンジを持つ Continuous Scanning Technology(CST) は、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定することを可能にします。この便利な卓上型のセットアップは、測定を容易にして、かつ高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを持っていることを特徴としています。 特長 コンパクトなセットアップで表面を測定 3D形状、粗さ、および表面詳細の非接触測定 CST ...

表面粗さや微細構造の形状測定のための、あらたな次元の光学式三次元形状測定器 ワンランク上の非接触 表面粗さ・形状測定なら TopMap Micro.View +は、次世代の光学式形状測定器です。この総合的なワークステーションは、モジュール方式のデザインによって、それぞれのアプリケーションの要求に合わせた特有の構成を可能にします。Micro.View +は、表面粗さ、表面の詳細、および微細構造の形状測定について、詳細な分析を提供します。3D データをカラー情報と組み合わせて、欠陥を詳細に記録するなどの見事な視覚化や広範囲の分析を実現します。高解像度カメラは、非常に詳細な設計表面の ...

TopMap Pro.Surfは、迅速かつ正確に高精度で形状偏差を測定します。 TopMap Pro.Surf はハイエンド ソリューションであり、精密製品の表面を測定するために最適です。 再現性が高いため、計測チャンバや生産ラインにおいても測定できます。TopMap Pro.Surfは優れた空間分解能と、テレセントリックレンズを有するため、あらゆるアプリケーションにおいて、平坦度、段差、平行度などのパラメータを正確に測定できます 概要 迅速かつ正確な3D表面特性評価 非接触測定とトレーサブルな測定結果 反射特性の異なる面もフィルタを使用して測定可能 最大測定範囲230 ...

TopMap Pro.Surf はハイエンド・ソリューションであり、粗さ測定センサを搭載することによりオールインワンシステム TopMap Pro.Surf +としてアップグレードされました。TopMap Pro.Surf +は単一パスで形状偏差と粗さを迅速かつ正確に測定可能です。再現性が高いため、計測チャンバや生産ラインにおいても測定できます。 Pro.Surf +はすばやく簡単に精密製品の表面を測定できるが理想的なシステムです。 概要 迅速かつ正確な3D表面特性評価と粗さ測定 オールンワンシステムは、重要な表面情報を一切見落としません 非接触測定とトレーサブルな測定結果 反射特性の異なる面もフィルタを使用して測定可能 最大測定範囲230 ...

ポリテックのMetro.Labは、深い測定深度とナノメートル分解能を有する高精度な白色光干渉計（コヒーレンス走査干渉計）です。柔らかく繊細な材料の、広い範囲における平坦度、段差、平行度の非接触測定に最適です。 Metro.Labの測定深度は最大70 mmであり、測定が困難と思われる場合も、サブナノメートル分解能での測定を実現します。 Metro.Labは研究室でも生産工程でも使用できます。また接触式測定システムを使用して実行していた測定案件にも、使用できます。さらに他のTopMapシステムと同様に、オープン ...

分解能: 530, 460 nm
長さ: 600 mm
幅: 550 mm

S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。 ソリューション ワンショット 光学式3D形状測定システム 高度な製造・加工 考古学・古生物学研究 大衆消費電化製品（CE） 医療機器 モールディング 光学 時計

倍率 : 20, 5, 100, 50, 150 unit
分解能: 630, 530, 460, 575 nm
長さ: 610 mm

新しい S neox は、性能、機能、効 率、デザインの全ての面で既存の 光学3Dプロファイリング顕微鏡を 凌駕する、クラス最高の面形状計 測システムです。 さらに速く スマートでユニークな新しいアル ゴリズムとカメラにより、全てをさ らに速く実行できます。データ取 得速度は 180fps で、標準測定 時間は5倍も短縮されました。新 しいS neoxは市場で最速の面形 状測定システムです。

倍率 : 5, 150, 20, 50, 100 unit
分解能: 630, 530, 460, 575 nm
長さ: 635 mm

S neox Five Axis 光学式3次元測定装置は、高精度回転ステージモジュールと、S neox 3D測定顕微鏡の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。 測定原理 幅広いスケールをカバー S neoxの3D測定技術は、形状（Ai焦点移動）、サブナノメーター粗さ（干渉計）、高い水平方向および垂直方向の解像度を必要とする寸法精度（共焦点）測定まで広範囲のスケールをカバーします。 測定原理 最高の多機能性 S ...

倍率 : 3, 10, 50, 100, 150 unit
分解能: 550 nm
長さ: 365 mm

S lynxは、産業および研究用に開発された非接触3D表面プロファイラの新製品です。多用途のコンパクトなシステムとして開発されました。S lynxは様々な表面スケールの異なる表面性状、構造、粗さ、うねりを測定できます。S lynxの多用途性により、幅広い範囲の高品質な表面測定に使用できます。Sensofar独自の3-in-1測定技術により理想的な性能が保証されています。また、関連するSensoSCANソフトウェアにより驚くほど直感的に使用でき、さらに高い性能を補完しています。 用途 自動車 民生品のエレクトロニクス エネルギー LCD 材料科学 マイクロエレクトロニクス マイクロマニュファクチャリング 微古生物学 光学 機械工具 半導体 時計製造 3-in-1テクノロジー 共焦点法 共焦点プロファイラは、滑らかな表面から非常に粗い表面に至るまで、様々な性状の表面を測定するために開発されました。共焦点プロファイリングは、光学プロファイラで獲得できる最高レベルの水平解像度を実現します。したがって、空間サンプリングを微小寸法測定に理想的な0.01 ...

長さ: 800 mm
幅: 695 mm
高さ: 890 mm

... 高速性と柔軟性を備えたPixie QIは、あらゆる表面の正確な測定を実現します。 スピード 柔軟性 あらゆる表面タイプ 測定の可能性 スピードと柔軟性 インライン品質検査のための生産速度測定と分析。表面形状と強度は、サブミクロンレベルで最大2.5 kHzまでサンプリングできます。 お客様固有のニーズに対応するカスタマイズされた自動化ソリューション。追加電動ステージ、ピック＆プレースロボット、または統合統計的工程管理（SPC）と組み合わせます。 あらゆる表面タイプと測定の可能性 光沢面、マット面、鏡面、あらゆる色など、難しい素材や形状の測定が可能です。また、曲面や多層の透明面の測定も可能です。 厚み、段差、直径、位置決め、平坦度、プロファイル、ギャップ、輪郭比較、粗さの寸法測定。斑点、不純物、傷、気泡、ボイド、箔の連続性などの視覚的欠陥。 技術仕様 軸移動（度） 2-5 2-5 ...