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非破壊・非接触3次元光学式プロファイラー(3次元白色干渉型顕微鏡・表面形状粗さ計)ContourX-200は、高度な特性評価、カスタマイズ可能なオプション、使いやすさを完璧に融合させ、クラス最高の高速、高精度、再現性のある非接触3次元表面形状測定を実現します。ゲージ対応で設置スペースを選ばない小型のコンパクトサイズに加え、広域視野角(FOV)対応の 5メガピクセル(5MP)デジタルカメラと新型の電動XYステージにより、2D/3Dでの高分解能測定を実現しました。高いZ軸分解能と精度を可能にし、また、高い操作性能と解析機能を実現するソフトウェアVision64を搭載しています。ContourX-200は、従来の共焦点顕微鏡や一般的な光学式プロファイラーでは制限のある測定条件においても、ブルカー独自の白色光干渉法(WLI)技術により幅広い様々な業界にて、理想的な測定精度とパフォーマンスを提供します。 ...
Bruker Nano Surfaces/ブルカー
... ContourX-100光学式プロフィロメータは、クラス最高の価格帯で、高精度で再現性の高い非接触表面形状測定の新たな基準を打ち立てました。数十年にわたるブルカー独自の白色光干渉法(WLI)の技術革新を取り入れた合理的なパッケージで、2D/3Dの高分解能測定が可能です。次世代の機能強化として、新しい5MPカメラとステージの更新により、より大きなスティッチングが可能になりました。また、新しい測定モードUSIにより、精密機械加工面、厚膜、トライボロジー・アプリケーションの利便性と柔軟性がさらに向上しました。ContourX-100より優れた価値を持つベンチトップ・システムは他にありません。 業界最高水準 Z分解能 倍率に左右されることなく、常に正確な測定が可能。 比類のない 計測価値 測定能力に妥協することなく、合理的な設計を実現します。 ユーザーフレンドリー ソフトウェアインターフェース あらかじめプログラムされたフィルターや分析の豊富なライブラリに直感的にアクセスできます。 比類のない計測 WLIは、あらゆる目的に対して、常に究極の垂直分解能を提供します。 ContourX-100は、40年以上にわたる独自の光学技術革新の集大成であり、非接触表面計測、特性評価、イメージングにおける業界のリーダーです。このシステムは、3D ...
Bruker Nano Surfaces/ブルカー
TopMap Micro.View は、操作性に優れたコンパクトな光学式形状測定器です。強力な計測ソリューションは、卓越した機能および優れたコストパフォーマンスを持っています。 100 ミリメートルの z 方向測定レンジを持つ Continuous Scanning Technology(CST) は、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定することを可能にします。この便利な卓上型のセットアップは、測定を容易にして、かつ高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを持っていることを特徴としています。 特長 コンパクトなセットアップで表面を測定 3D形状、粗さ、および表面詳細の非接触測定 CST ...
Polytec
表面粗さや微細構造の形状測定のための、あらたな次元の光学式三次元形状測定器 ワンランク上の非接触 表面粗さ・形状測定なら TopMap Micro.View +は、次世代の光学式形状測定器です。この総合的なワークステーションは、モジュール方式のデザインによって、それぞれのアプリケーションの要求に合わせた特有の構成を可能にします。Micro.View +は、表面粗さ、表面の詳細、および微細構造の形状測定について、詳細な分析を提供します。3D データをカラー情報と組み合わせて、欠陥を詳細に記録するなどの見事な視覚化や広範囲の分析を実現します。高解像度カメラは、非常に詳細な設計表面の ...
Polytec
TopMap Pro.Surfは、迅速かつ正確に高精度で形状偏差を測定します。 TopMap Pro.Surf はハイエンド ソリューションであり、精密製品の表面を測定するために最適です。 再現性が高いため、計測チャンバや生産ラインにおいても測定できます。TopMap Pro.Surfは優れた空間分解能と、テレセントリックレンズを有するため、あらゆるアプリケーションにおいて、平坦度、段差、平行度などのパラメータを正確に測定できます 概要 迅速かつ正確な3D表面特性評価 非接触測定とトレーサブルな測定結果 反射特性の異なる面もフィルタを使用して測定可能 最大測定範囲230 ...
Polytec
TopMap Pro.Surf はハイエンド・ソリューションであり、粗さ測定センサを搭載することによりオールインワンシステム TopMap Pro.Surf +としてアップグレードされました。TopMap Pro.Surf +は単一パスで形状偏差と粗さを迅速かつ正確に測定可能です。再現性が高いため、計測チャンバや生産ラインにおいても測定できます。 Pro.Surf +はすばやく簡単に精密製品の表面を測定できるが理想的なシステムです。 概要 迅速かつ正確な3D表面特性評価と粗さ測定 オールンワンシステムは、重要な表面情報を一切見落としません 非接触測定とトレーサブルな測定結果 反射特性の異なる面もフィルタを使用して測定可能 最大測定範囲230 ...
Polytec
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