近赤外線（NIR）分光光度計

波長: 165 nm - 3,300 nm

... SolidSpec-3700i/3700i DUVは、紫外線から近赤外線までの範囲をカバーする3つの検出器を備えています。 特徴 高感度 光学部品の測定には高い透過率・反射率の精度が要求されます。SolidSpec-3700i/3700i DUVは紫外から近赤外までをカバーする3つの検出器を搭載しています。InGaAs検出器と冷却PbS検出器の両方を使用することで、近赤外領域の感度が大幅に向上しています。紫外から近赤外まで、高精度・高感度のスペクトルが得られます。光学部品の測定には、透過率や反射率の高い精度が要求されます。SolidSpec-3700i/3700i ...

波長: 175 nm - 3,300 nm
高さ: 30 cm

... PerkinElmer LAMBDA 1050+ UV/Vis/NIR分光光度計は、研究および製造におけるコーティング、高性能ガラス、太陽電池、先端材料やコンポーネントの分析を含む、幅広い種類のサンプルを分析するための最高の性能と柔軟性を提供するように設計されています。LAMBDA 1050+は、超高性能、柔軟性、利便性において、業界標準を満たし、それを上回ることもあります。最新世代のLAMBDA 1050+分光光度計は、これまで以上に高速なスキャンレート、装置セットアップ、優れた応答時間を実現し、生産性を最大限に高めるよう設計されています。 概要 高性能のLAMBDA ...

波長: 190 nm - 3,300 nm

紫外可視近赤外分光光度計 UH5700は、固体・液体試料に対して、紫外線波長領域から近赤外線波長領域まで幅広い測定波長範囲に対応しています。また、新しいデータ処理ソフトの採用により、快適な操作環境を実現しています。 連続可変スリットの採用 低光量測定時は自動でスリットが広くなり、高光量測定時はスリットが狭くなる連続可変スリットを近赤外波長域に採用、幅広い測定波長範囲190～3,300 nmで低ノイズ測定を実現しています。 低迷光 本製品はフォトリソグラフィ技術を用いた新開発のグレーティングを搭載しており、ツェルニターナーマウント ...

波長: 175 nm - 3,300 nm
幅: 900 mm
高さ: 1,180 mm

紫外可視近赤外分光光度計UH4150は、紫外領域（200～380 nm）、可視領域（380～780 nm）、赤近外領域（780～3,300 nm（*1））の光を利用して試料の透過率、反射率、吸光度を測定する装置である。主に材料分野において学術、研究開発、品質管理等の多岐にわたる測定に利用されている。今回紹介する自動偏光測定システム、自動角度可変測定システム、自動X-Yステージ測定システムは紫外可視近赤外分光光度計UH4150をベースとして、特定の測定法の自動化を図った。これら自動測定システムは従来法（*2）と比較し、測定値の再現性向上や高い作業効率を実現した。 次に各自動測定システムについて述べる。自動偏光測定システムは偏光子を自動で測定するシステムである。偏光子はある一方向の光を取り出すことが可能で、偏光サングラスや液晶TV等広い分野で使用されており、偏光試料のパラレル（平行）、クロスニコル（直交）を測定することにより性能を評価する。クロスニコルの設置を手動で行うと、偏光試料の僅かな設置角度の違いが測定結果に影響を与え、設置再現性が低くなることがある。自動偏光測定システムはクロスニコルの状態を自動検出するため、再現性の高い測定が可能となる。 自動角度可変測定システムは入射角5°～70°における正反射スペクトルおよび入射角0°～70°の透過スペクトルを自動で測定する。品質管理や研究開発において、多数の入射角度や検体の測定が必要な場合、サンプル入射角や積分球（検出器）角設定の手間を省き、大幅な実測時間の短縮が可能となる。また、固定波長における正反射率、拡散反射（透過）率等の測定も可能である。 自動X-Yステージ測定システムは測定箇所を予め設定することで、入射角5°の相対反射スペクトルまたは入射角0°の透過スペクトルを自動で測定する。多くの検体や複数個所の測定が必要な場合、試料交換の手間を省くことができ大幅な作業時間の短縮が可能である。また、試料は上置きであるため、フォトマスクやウェハ、ガラス等の大形試料を簡単に設置可能で、試料の反射/透過スペクトルの面内分布測定ができる。 自動偏光測定システムの特長とアプリケーション 自動偏光測定システムの特長 （1）偏光解消板を内蔵しており、装置の光学特性を含まない測定が可能である。 （2）透過率の最も低くなるクロスニコルの状態を最小0.01°単位で自動検出し、再現性の高い測定結果を取得可能である。 （3）色彩（X、Y、Z）、（L*、a*、b*）、（L、a、b）、（L*、u*、v*）、色度座標（x、y）、偏光度の算出が可能である。 自動偏光測定システムのアプリケーション 自動偏光測定システムにて、市販の偏光フィルム２枚を測定した。透過率の最も低くなるクロスニコルの状態を最小0.01°単位で自動検出し（図5）、偏光度を算出した結果、偏光度99.98％が得られた。 また、自動偏光付属装置と従来法（*2）にてクロスニコルの検出を行い、繰り返し5回測定した。その結果、自動偏光付属装置を使用した場合は従来法と比較し高い再現性が得られた（表1）。 自動角度可変測定システムの特長 （1）任意の入射角度における試料の透過（0°～70°）・反射スペクトル（5°～70°）の測定が可能である。 （2）ベースラインチャンネルを標準で4チャンネル搭載しているため、S、P偏光のベースラインを最初に取得できる。そのため試料の付け替えをせずに、同一箇所のS、P偏光測定が可能である。 （3）入射角度を細かく設定する場合は従来法（*2）と比較し、約9割実働時間を短縮することが可能である（*3）。