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DektakPro™は、55年にわたる表面測定の技術革新とトップクラスの技術を基に、触針式表面形状測定装置の性能に新たな基準を打ち立てました。このシステムは、この上ない使いやすさで最高品質のデータを提供します。 第11世代のDektak®システムの特長: 比類のない精度と4Å以上の繰り返し精度 測定・分析スピードの高速化 ブルカー独自の汎用性と使いやすさを備えた機能 最先端の研究や産業用アプリケーションを将来にわたってサポートするために必要な、最新の信頼性の高い触針式形状測定を提供できるのは ...
Bruker Nano Surfaces/ブルカー
触針式プロファイリングシステムDektak XTLは、正確度、繰り返し性、再現性が極めて高く、幅広い用途に対応する計測システムです。350 mm x 350 mmまでのサンプルを搭載できるため、定評あるDektakシステムの性能を200 mmおよび300 mmウエハ製造にも活用できます。インターロックドアによる隔離機能を備えたDektak XTLは、要求の厳しい現在の生産環境に最適です。カメラ2台の構成により空間認識性能が上昇し、高度な自動化により製造スループットが向上します。 卓越した性能と使いやすさを兼ね備えたDektak ...
Bruker Nano Surfaces/ブルカー
表面粗さや微細構造の形状測定のための、あらたな次元の光学式三次元形状測定器 ワンランク上の非接触 表面粗さ・形状測定なら TopMap Micro.View +は、次世代の光学式形状測定器です。この総合的なワークステーションは、モジュール方式のデザインによって、それぞれのアプリケーションの要求に合わせた特有の構成を可能にします。Micro.View +は、表面粗さ、表面の詳細、および微細構造の形状測定について、詳細な分析を提供します。3D データをカラー情報と組み合わせて、欠陥を詳細に記録するなどの見事な視覚化や広範囲の分析を実現します。高解像度カメラは、非常に詳細な設計表面の ...
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