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波長: 200 nm - 2,000 nm
... 高分解能TCSPC:時間相関シングルフォトンカウンティングで蛍光寿命を簡単に測定 短寿命測定に最適革新的なゼロ時間分散モノクロメーター設計により、5 psまでの蛍光寿命測定が可能 NIRカバレッジ:1700nmまでのNIRエミッターを研究できるNIR検出器オプション 柔軟なレーザー統合:パルスダイオードレーザー、スーパーコンティニュームレーザー、チタン:サファイアレーザーとの互換性 コンパクト:コンパクト設計でラボスペースを節約 Lifespec II ...

長さ: 460 mm
幅: 300 mm
高さ: 100 mm
... 他を圧倒するEDX EDX-8100は、様々な試料に含まれる元素を高精度で迅速に分析します。 特徴 様々な分野のアプリケーションに対応 電気・電子材料 RoHS、ハロゲンスクリーニング 半導体、ディスク、液晶、太陽電池の薄膜分析 自動車・機械 ELV有害元素スクリーニング 機械部品の成分分析、メッキ膜厚測定、化成皮膜重量測定 鉄・非鉄金属 原料・合金・はんだ・貴金属の主成分分析・不純物分析 スラグの成分分析 鉱業 鉱物処理のための品位分析 セラミックス セラミックス、セメント、ガラス、レンガ、粘土の分析 石油・石油化学 石油中の硫黄の分析 潤滑油中の添加元素と混合元素の分析 ...

波長: 190 nm - 1,100 nm
長さ: 178 mm
幅: 67 mm
... Exemplar®プラスLSは、収差補正された凹面ホログラフィックグレーティングを採用し、迷光を最小限に抑えた高性能スマート分光器です。その長い焦点距離は、高い量子効率検出器と相まって、190~1100nmの全スペクトル範囲にわたって優れたデータ品質を提供します。ExemplarプラスLSは、高いS/N比を特長とし、低照度のアプリケーションに最適です。また、内蔵シャッターにより、照明下でもダークスキャン測定が可能です。Exemplar製品ラインの一員として、オンボードデータ処理とUSB ...
B&W Tek

波長: 200 nm - 850 nm
長さ: 188 mm
幅: 71 mm
... Exemplar®Plusは、迷光の少ないアンフォールデッドCzerny-Turner分光器を使用した高性能スマート分光器です。高感度TE冷却バックシン(BT)CCD検出器を搭載し、高ダイナミックレンジを実現するためにリニアサミングされています。その長い焦点距離は、高い量子効率検出器と相まって、190-1100nmの全スペクトル範囲にわたって優れたデータ品質を提供します。Exemplar Plusは高いS/N比を特長とし、低照度のアプリケーションに最適です。また、内蔵シャッターにより、照明下でもダークスキャン測定が可能です。Exemplar製品ラインの一員として、オンボードデータ処理とUSB ...
B&W Tek
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