FE-SEM顕微鏡

倍率 : 1 unit - 2,000,000 unit

低加速電圧下で高コントラストの実現が可能なFE-SEM 基礎研究、工業分野、イメージング施設などで活用いただける、柔軟で信頼できるフィールドエミッション型走査型電子顕微鏡（FE-SEM）です。 GeminiSEM シリーズは、低加速電圧下で高コントラストを実現。さまざまなサンプルに対応が可能です。

ZEISS Sigma 300 はコストパフォーマンスに優れています。また、ZEISS Sigma 500 ではクラス最高のEDS geometry で、簡単に高速に元素分析が可能。試料を選ばず、いつでも正確に再現性のある結果が得られます。 フレキシブルな検出、４ステップワークフロー、高度な解析 フィールドエミッションSEM（FE‐SEM）のテクノロジーに高度な解析。実績ある Gemini 電子光学系を搭載しています。 様々なオプションが選択できる検出器では、粒子、表面、ナノ構造のイメージングが可能です。また、セミオートの4ステップのワークフローで時間を節約できるため、 ...

高解像度電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)のイメージングと解析性能を、次世代集束イオンビーム(FIB)の処理能力と組み合わせたもZEISS Crossbeam。学術機関や産業研究所といった、複数のユーザーが利用するような機関で働く方々にもお役に立ちます。Crossbeamのモジュラープラットフォームコンセプトを利用して、既存のシステムを必要に応じてアップグレードできます。ミリング、イメージング、あるいは3D分析を実施する上で、CrossbeamによってFIBを利用する際の処理が迅速になります。 Gemini電子工学を利用した高解像度SEM画像から、正しい試料情報を取得します。 イオンスカルプタFIBカラムに ...

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.6, 0.8, 0.9 nm

SU8700は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 ショットキーFE電子銃搭載により、極低加速電圧観察から大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 ...

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.7, 0.6 nm

SU8600 は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 高輝度コールドFE電子銃と検出信号制御機能により、高コントラスト像を高い分解能で提供します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 ...

倍率 : 1 unit - 2,500,000 unit

... CIQTEK SEM5000は、高解像度、高機能な電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM、FEG SEM）です。 先進的なカラム設計、高電圧トンネル技術（SuperTunnel）、低収差非漏洩磁気対物レンズ設計、低電圧高解像度イメージングを達成するために、磁気試料を適用することができますが。光学ナビゲーション、高度な自動機能、よく設計された人間と機械の相互作用、および最適化された操作。 経験者でも未経験者でも、高解像度の撮影作業をすぐに開始することができます。 特徴 01 低加速電圧で高解像度の撮影が可能。 02 電磁複合ミラーにより、収差を低減し、低電圧での解像度を大幅に向上させ、磁性体試料の観察を可能にしました。 03 高圧トンネル技術（SuperTunnel）により、トンネル内の電子が高いエネルギーを維持できるため、空間電荷の影響を低減し、低電圧での解像度を確保。 04 クロスオーバーのない電子光路により、システム収差を効果的に低減し、解像度を向上させます。 05 水冷式恒温対物レンズ、対物レンズ作業の安定性、信頼性、再現性を確保するため。 06 磁気偏向6穴調整ダイヤフラム、自動切り替えダイヤフラム穴、機械的な調整なし、高解像度観察または大きなビーム分析モードの高速切り替えを達成するために。 ソフトウェア ...