走査電子顕微鏡

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FE-SEM顕微鏡
FE-SEM顕微鏡
SU9000II

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.7, 1.2, 0.4 nm

コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
FE-SEM顕微鏡
FE-SEM顕微鏡
SU8700

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.6, 0.8, 0.9 nm

FE-SEMの観察や分析では対象や目的に応じて観察条件を変更し、その度に電子光学系条件を調整する作業が生じます。調整に要する時間はユーザーの熟練度によって異なり、このことがデータの質やスループットのばらつきを生じさせる一因になっています。SU8600/SU8700には、電子光学系の調整作業を自動化する機能が搭載され、安定した光学条件維持を可能にしています。 ワークフローに応じた自動データ取得レシピ作成支援オプション「EM Flow Creator」を搭載 装置の性能向上に伴い求められるデータの種類や量も増大している中、多種多量のデータを手動で取得することもユーザーの負担を増大させています。SU8600/SU8700にはレシピ作成を可能にするオプション「EM ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
SU8600

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.6, 0.7 nm

FE-SEMは、得られる画像の分解能が高く、またその情報の豊富さや試料の取り扱いが比較的簡便なことから、ナノテクノロジー、半導体・エレクトロニクス、ライフサイエンス、材料などの幅広い分野において、微細構造の観察から計測、分析まで多岐にわたって活用されています。近年のマテリアルズ・インテグレーションをはじめとしたその活用分野・用途の広がりに伴い、大量データの短時間取得やそれに要する負荷の低減が求められています。 こうしたニーズに応え、2021年12月に発売したSU8600/SU8700では日立ハイテクがこれまで培ってきた高分解能FE-SEMとしての性能に加えて、大量データ取得を支援する自動化機能を強化しています。 今後、多くのデータを必要とするデータ駆動型研究開発の進展が予想される中、本製品群により大量データの短時間取得やユーザーの負荷低減を支援します。 電子光学系の自動調整機能を搭載 FE-SEMの観察や分析では対象や目的に応じて観察条件を変更し、その度に電子光学系条件を調整する作業が生じます。調整に要する時間はユーザーの熟練度によって異なり、このことがデータの質やスループットのばらつきを生じさせる一因になっています。SU8600/SU8700には、電子光学系の調整作業を自動化する機能が搭載され、安定した光学条件維持を可能にしています。 ワークフローに応じた自動データ取得レシピ作成支援オプション「EM ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
GeminiSEM series

倍率 : 1 unit - 2,000,000 unit

低加速電圧下で高コントラストの実現が可能なFE-SEM 基礎研究、工業分野、イメージング施設などで活用いただける、柔軟で信頼できるフィールドエミッション型走査型電子顕微鏡(FE-SEM)です。 GeminiSEM シリーズは、低加速電圧下で高コントラストを実現。さまざまなサンプルに対応が可能です。

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ZEISS Microscopy
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
LVEM5

... 世界最小のTEM... LVEM5は、高分解能イメージングと光学顕微鏡の小さなフットプリントを組み合わせたコンパクトなベンチトップ装置です。顕微鏡、電子ユニット、真空システム、PCの4つのパーツから構成されています。小さな設置面積、暗室不要、冷却水不要、簡単なメンテナンス...これらにより、この装置は個人またはグループ内で多目的に使用できる電子顕微鏡となっています。 高コントラスト LVEM5は、重金属染色やシャドーイングを使用することなく、軽元素で構成された物体を高コントラストで観察できるユニークな調査ツールです。 豊富なイメージングモード LVEM5は世界最小の透過型電子顕微鏡で、従来のTEMに搭載されている標準的なイメージングモードをすべて備えています。LVEM5は、ナノメートルの空間分解能で、透過モード(TEM ...

走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
VEGA

倍率 : 1,000,000 unit

... TESCAN VEGA Compactは、簡単な操作で高画質な画像や組成分析(EDS)を短時間で得られることを重視する研究室向けの分析用SEMソリューションで、エントリーレベルでも妥協する必要はないことを証明します。 TESCAN VEGA Compactは、形態や元素のデータを効率的に取得するために最も重要なコンポーネントのみを含むシンプルな構成になっており、ラボでの占有面積を小さくすることができます。TESCAN VEGA Compactは、冶金断面、溶接構造、プリント基板など、産業、材料科学、半導体で一般的な大型サンプルに対応できるため、現在の材料検査、品質管理、故障解析のニーズだけでなく、将来の分析ニーズにも対応できる優れた選択肢です。 TESCAN ...

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TESCAN GmbH
光学顕微鏡
光学顕微鏡
VEGA

... TESCAN VEGAの第4世代タングステンフィラメント電子源搭載走査型電子顕微鏡(SEM)は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、VEGA SEMは品質管理、故障解析、研究所のルーチン材料検査における効率的な分析ソリューションとなります。 完全に統合されたTESCAN Essence™ EDSを特徴とする分析プラットフォームは、単一のEssence™ソフトウェアウィンドウでSEMイメージングと元素組成分析を効率的に組み合わせます。 In-flight ...

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TESCAN GmbH
光学顕微鏡
光学顕微鏡
MIRA

... TESCAN MIRAのFEGショットキー電子放出源搭載の第4世代走査型電子顕微鏡(SEM)は、SEMイメージングとライブ元素組成分析をTESCANのEssence™ソフトウェアの単一ウィンドウに統合しています。この組み合わせにより、サンプルの形態データと元素データの取得が大幅に簡素化され、MIRA SEMは品質管理、故障解析、研究所における日常的な材料検査のための効率的な分析ソリューションとなります。 TESCAN Essence™ EDSを完全に統合した分析プラットフォームで、SEMイメージングと元素組成分析を1つのEssence™ソフトウェアウィンドウで効率的に組み合わせることができます。 In-flight ...

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TESCAN GmbH
光学顕微鏡
光学顕微鏡
SU9000II

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.4, 0.7 nm

コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 日立FE-SEMの最上位機種 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

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Hitachi High-Technologies
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
JSM-IT800

分解能: 0.5 nm - 3 nm

JSM-IT800は、高分解能観察を実現するための "インレンズショットキーPlus電界放出形電子銃" と次世代型電子光学制御システム "Neo Engine"、高速度元素マッピングを実現するために使いやすさを追求したGUI "SEM Center" に自社製EDSを組込んだシステムを共通のプラットフォームとしています。 SEMの対物レンズをモジュールとして置き換えることで、お客様の様々なニーズに応じた装置を提供します。 JSM-IT800には、対物レンズの違いにより、汎用FE-SEMであるハイブリッドレンズバージョン ...

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Jeol
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
SEM

... 今日まで、安価で使いやすい高解像度のイメージングツールの選択肢は限られていました。当社の電子顕微鏡では、サブミクロンからナノスケールの観察が可能です。 個人用の走査型電子顕微鏡(SEM)は、光学の限界を超えて見ることができます。 従来の光学顕微鏡の20倍の倍率を持つSEMは、高解像度のイメージングと非常に使いやすい操作性を兼ね備えています。エンジニア、研究者、教育者、学生は、わずか10分のトレーニングで、高品質なサブミクロンの画像を作成することができます。 このシステムは、サブミクロンの粒子、繊維、マイクロツール、電子部品などの詳細なイメージングに最適です。光学カメラ、電動ステージ、タッチスクリーンのユーザーインターフェースが連携し、24倍の「鳥瞰図」から興味のある領域に簡単にナビゲートすることができます。 優れた画像品質は、生産性を向上させ、根本的な原因分析までの時間を短縮する新しい方法を生み出すのに役立ちます。 私たちは、光学カメラを搭載した高解像度のパーソナル走査型電子顕微鏡を提案します。革新的なタッチスクリーンのユーザーインターフェースと操作ノブにより、最小限のトレーニングで高品質の電子顕微鏡画像を素早く作成することができます。このシステムは、最小限の準備でさまざまなサンプルを扱うことができ、特許取得済みの低真空ロードロック技術により瞬時にロードされます。画像はUSBメモリーやネットワークストレージに保存され、オフラインでの分析、測定、配信が可能です。 仕様 倍率は24~24,000倍 最大画像サイズ:2048 ...

光学顕微鏡
光学顕微鏡
SH-5500P

倍率 : 150 unit
分解能: 5 nm

... 本製品は、5軸電動ステージと大型チャンバーにより、大型試料にも対応できるプレミアムテーブルトップSEMです。高電圧は1~30kV(6段階)の範囲で調整可能です。 - ウィンドウズ10対応 - 5軸フルモータライズ - 45度から90度までのチルトにより、試料を完全に観察することができます。 - ペアSEステレオ画像、または4枚のBSE画像から3D再構成が可能。 - EBSD用70度チルト可能(オプション) - 最大サンプルサイズ:直径80mm、厚さ40mm 使いやすいグラフィックインターフェース ステージナビゲーター付きCCDカメラ SEMに取り付けたCCDカメラで、試料を入れた試料ホルダーの画像を撮影することができます。 画像は自動的にSEMソフトウェアに読み込まれます。 画像をクリックするとステージが移動し、サンプル上を移動することができます。 標準仕様 最大5120*3560画素の画像 ビーム分解能 ...

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