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Resolução espacial: 4, 1,6, 2,1 nm
... recém-desenvolvido sistema FIB-SEM da Hitachi, o NX9000, incorpora um layout optimizado para um verdadeiro corte em série de alta resolução, de modo a responder às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para ...
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Resolução espacial: 2,8, 3,5, 4, 60 nm
... Os sistemas FIB-SEM tornaram-se uma ferramenta indispensável para a caraterização e análise das mais recentes tecnologias e materiais à escala nanométrica de elevado desempenho. Uma procura cada vez maior de lâminas TEM ...
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Resolução espacial: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... O FIB-SEM Ethos da Hitachi incorpora a última geração de FE-SEM com uma excelente estabilidade e brilho do feixe. O Ethos proporciona imagens de alta resolução a baixas tensões combinadas com ótica de iões para um processamento ...
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Uma combinação única de FIB de plasma e MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo para caracterização de materiais em múltiplas escalas Processamento FIB de grande área e alta produtividade até ...
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