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Microscópios SIM
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Resolução espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... O NX2000 é um FIB-SEM optimizado para aplicações de semicondutores (análise de defeitos com importação de coordenadas KLARF, extração de lamelas TEM, desenvolvimento de dispositivos). Com um curso X,Y de 205 x 205 mm, a plataforma de ...

... uma grande área de varrimento, uma conceção flexível da experiência e uma integração notável com sistemas avançados de microscópio ótico. A configuração automática, o alinhamento e o reajuste dos parâmetros do sistema ...

Resolução espacial: 115, 269 nm
... processos biológicos rápidos sejam capturados com o dobro da resolução espacial de microscópios de luz convencionais (até 115nm em XY) . Combinando o N-SIM S e um microscópio confocal, ...
Nikon Instruments

Resolução espacial: 115, 269 nm
Um microscópio pessoal de super-resolução que fornece a mesma alta resolução que o N-SIM S. N-SIM E is a streamlined, affordable super-resolution system that provides double the resolution ...
Nikon Instruments

Ampliação : 60, 100, 20, 40 unit
Resolução espacial: 400 nm - 750 nm
... Resolução O DeepSIM baseia-se numa técnica robusta de SIM de rede multipontos que atinge uma resolução XY de 100 nm; um aumento de 2 vezes na resolução espacial em comparação com a microscopia de campo ...
Nikon Instruments

Resolução espacial: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... suportam uma preparação de amostras TEM de alto rendimento e alta qualidade para aplicações de ponta. * Opção Características A deteção de ponto final SEM em tempo real e de alto contraste permite a preparação de amostras ...
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