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... de luz branca (WLI) proprietária da Bruker sem as limitações dos microscópios confocais convencionais e dos perfiladores ópticos padrão concorrentes. Automação capacidades Ativar rotinas para medições e análises mais ...
Bruker Nano Surfaces
... O interferómetro de luz branca (WLI) de chão NPFLEX-1000 oferece a solução mais precisa e flexível para avaliar nano- a macro-características em peças de grandes dimensões em QA/QC de maquinação de precisão. As principais características ...
Bruker Nano Surfaces
... O Profilómetro Ótico ContourX-100 estabelece uma nova referência para a metrologia de superfície sem contacto, precisa e repetível, ao melhor preço da sua classe. O sistema de dimensões reduzidas oferece capacidades de ...
Bruker Nano Surfaces
... O perfilómetro ótico ContourX-500 é o sistema de bancada automatizado mais completo do mundo para metrologia de superfícies 3D rápida e sem contacto. O ContourX-500, com capacidade de medição, possui uma resolução e precisão incomparáveis ...
Bruker Nano Surfaces
... Ao longo das últimas cinco décadas, os sistemas Dektak da Bruker lideraram a indústria na tecnologia de perfilagem por agulha, alcançando melhorias significativas na resolução, estabilidade, velocidade e versatilidade. Atualmente, os ...
Bruker Nano Surfaces
... O perfilómetro de ponta Dektak XTL™ acomoda amostras até 350 mm x 350 mm, trazendo a lendária repetibilidade e reprodutibilidade Dektak® para o fabrico de bolachas e painéis de grande formato. O Dektak XTL possui isolamento pneumático ...
Bruker Nano Surfaces
... O TopMap Micro.View é um perfilador ótico compacto e fácil de utilizar. Combine desempenho excecional e preço acessível com esta poderosa solução de metrologia. Com uma gama de medição Z alargada de 100 mm e a tecnologia de varrimento ...
Polytec
... O TopMap Micro.View+ é a próxima geração de perfiladores ópticos de superfície. Concebida para modularidade, esta estação de trabalho abrangente permite configurações personalizadas e específicas para cada aplicação. ...
Polytec
... Medição de parâmetros de forma como planicidade, paralelismo ou altura do degrau para inspecções fiáveis da qualidade da superfície e análise de aprovação/reprovação. Inspecções fiáveis da qualidade da superfície e análise de aprovação O ...
Polytec
... Medição combinada da rugosidade da superfície e do desvio da forma com a metrologia de superfície 3D ótica tudo-em-um Medição combinada da rugosidade da superfície e do desvio da forma O TopMap Pro.Surf+ determina convenientemente a ...
Polytec
... Caracterização da superfície com interferometria de luz branca O TopMap Metro.Lab da Polytec é um interferómetro de luz branca de alta precisão (interferómetro de varrimento de coerência) com um grande alcance vertical e uma resolução ...
Polytec
Resolução espacial: 530, 460 nm
Comprimento: 600 mm
Largura: 550 mm
... O S wide é um sistema dedicado concebido para medir rapidamente grandes áreas de amostras até 300 x 300 mm. Oferece todas as vantagens de um microscópio digital integrado num instrumento de medição de alta resolução. Extremamente fácil ...
Sensofar Metrology
Ampliação : 20, 5, 100, 50, 150 unit
Resolução espacial: 630, 530, 460, 575 nm
Comprimento: 610 mm
... O novo S neox supera os microscópios ópticos de perfilamento 3D existentes em termos de desempenho, funcionalidade, eficiência e design, fornecendo à Sensofar um sistema de medição de área líder na sua classe. Mais rápido ...
Sensofar Metrology
Ampliação : 5, 150, 20, 50, 100 unit
Resolução espacial: 630, 530, 460, 575 nm
Comprimento: 635 mm
... O perfilador ótico 3D de cinco eixos S neox combina um módulo de rotação de alta precisão com as capacidades avançadas de inspeção e análise do perfilador ótico 3D S neox. Isto permite medições automáticas de superfícies 3D em posições ...
Sensofar Metrology
Ampliação : 3, 10, 50, 100, 150 unit
Resolução espacial: 550 nm
Comprimento: 365 mm
... Automotivo Electrónica de consumo Energia LCD Ciência dos materiais Microelectrónica Micromanufacturação Micropaleontologia Óptica Ferramentas Semicondutores Fabrico de relógios tecnologias 3 em 1 Confocal Os perfis ...
Sensofar Metrology
Comprimento: 800 mm
Largura: 695 mm
Altura: 890 mm
... Com elevada velocidade e flexibilidade, o Pixie QI fornece medições exactas de qualquer superfície. Velocidade Flexibilidade Todos os tipos de superfície Possibilidades de medição Velocidade e flexibilidade Medição e análise da velocidade ...
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