Resolução à escala atómica
Grande tamanho de amostra
DSP (Digital Signal Processing) para um ótimo desempenho
Sistema operativo em tempo real incorporado
Ligação Ethernet rápida ao computador
Multi-funções
Microscópio de força atómica (AFM)
Microscópio de Força Lateral (LFM)
Análise de força: Curva I-V, Curva I-Z, Curva de força
Imagem 3D online em tempo real para melhor observação
Sinais multicanal para mais detalhes da amostra
Varrimento Trace-Retrace, varrimento Back-Forward
Análise múltipla: Granularidade e rugosidade
Carregamento de dados para análise posterior
Operação simples
Engate rápido e automático da ponta
Troca fácil do suporte da ponta, para alternar facilmente entre STM e AFM
Controlo totalmente digital, reconhecimento automático do estado do sistema
Movimento de amostras baseado em software
Função Nano-Movie: Recolha contínua de dados, armazenamento e reprodução
Especificações
Parâmetros técnicos
Escopo de varredura X-Y: ~ 10 micrómetros
Distância Z: ~ 2 micrómetros
Pixels de imagem: 128 × 128, 256 × 256, 512 × 512, 1024 × 1024
Ângulo de varrimento: 0 ~ 360°
Taxa de varrimento: 0.1 ~ 100 Hz
Eletrónica
CPU: processador de sinal digital (DSP) de 32 bits a 600 MHz da Texas Instruments
DAC rápido de 16 bits
ADC rápido de 16 bits
Alta tensão: 5 canais
Interface de comunicação: ethernet rápida 10M/100M
Mecânica
Tamanho da amostra: Até 45 mm de diâmetro, atinge 15 mm quando se utiliza um AA2000/AA3000 e atinge 30 mm quando se utiliza o AA5000;
Engate: Engate automático com distância de deslocação de 30mm e precisão de 50nm
Design modularizado para uma manutenção conveniente e futuras actualizações
Software
Software de controlo online e software de processamento de imagem offline
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