O sistema de Microscopia de Sonda de Varrimento OS-AA é multifuncional e totalmente aberto. O Microscópio de Sonda de Varrimento OS-AA não é apenas uma plataforma para experiências não convencionais, mas também para desenvolvimentos futuros.
Características
Multifunções: STM, AFM, LFM, MFM, EFM, Modo de Contacto, Tapping, Fase
Aquisição de imagens com controlo totalmente digital ADC/DAC de 16 bits
Comunicação de alta velocidade baseada no protocolo TCP/IP para CPU dupla, SO duplo e
e grande intercâmbio de dados
Canal de sinal de entrada/saída preservado para posterior extensão do sistema
Interface aberta externa padrão para segundos desenvolvimentos
Curva I-V e curva de força
Nano-processamento
Nano-manipulação com tecnologia Super-Multimédia
Concebido para Windows Vista/XP/NT/2000/9X
Hardcode e Dynamic Code aplicados ao software offline
Brilho e contraste actualizados automaticamente Multi-análise: Granularidade e rugosidade
Especificações
Sensibilidade à corrente: ≤10pA
Sensibilidade da força: ≤ 1nN
Precisão de posicionamento: ≤ 0,5nm
Canais de saída preservados: 6 canais (1 canal ± 10V, DAC de 16 bits)
Canais de entrada preservados: 16 canais (100k/16-bit ADC com filtro passa-baixo e amplificador)
Canais DI/DO preservados: 8 canais DI, 8 canais DO
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