Difratômetro de raios X ADX-2500

para pesquisa

O ADX-2500 X-ray Diffraction (XRD) foi concebido para aplicação na medição da microestrutura, testes e investigações aprofundadas. Com diferentes acessórios e o correspondente software de controlo e cálculo, o ADX-2500 XRD é um sistema de difração de acordo com os requisitos práticos em muitos campos. O difratómetro de raios X ADX-2500 permite a análise da estrutura de amostras monocristalinas, policristalinas e amorfas. O ADX-2500 X Ray Diffraction é capaz de: análise qualitativa de fase e análise quantitativa (RIR, calibração de padrão interno, calibração de padrão externo, critério aditivo), indexação de padrões, determinação e refinamento de células unitárias, determinação de tamanho de cristalito e deformação, ajuste de perfil e refinamento de estrutura, determinação de tensão residual, análise de textura (ODF expressa figura de pólo tridimensional), estimativa de cristalinidade a partir de áreas de pico, análise de película fina e outros. Características A incorporação perfeita do hardware e do software permite ao ADX-2500 X-ray Diffraction efetuar diferentes tipos de análise para investigadores de várias áreas; A elevada precisão da medição do ângulo de difração permite ao ADX-2500 X-ray Diffraction obter dados mais exactos; A maior estabilidade do sistema de controlo do gerador de raios X proporciona uma excelente precisão de medição; O design simples e eficaz torna o ADX-2500 XRD fácil de utilizar e de operar. Software Processamento geral de dados de difração: pesquisa automática de picos, pesquisa manual de picos, intensidade integral, separação de Kα1, α2, remoção de fundo, suavização e ampliação de padrões, gráfico múltiplo, gráfico tridimensional e simulação de padrões de difração de raios X (XRD).