Espectrômetro AFM IconIR

infravermelhoFT-IRpara nanotecnologia

O sistema Dimension IconIR™ de grandes amostras da Bruker combina a espetroscopia de infravermelhos (IR) em nanoescala e a microscopia de sonda de varrimento (SPM) numa plataforma para fornecer as mais avançadas capacidades de espetroscopia, imagem e mapeamento de propriedades disponíveis para investigadores académicos e utilizadores industriais. Incorporando décadas de investigação e inovação tecnológica, o IconIR proporciona um desempenho inigualável com base nas capacidades de medição AFM do Dimension Icon®, as melhores do sector. O sistema permite a microscopia correlativa e a imagiologia química com resolução melhorada e sensibilidade de monocamada, enquanto a sua arquitetura única de amostras grandes proporciona a máxima flexibilidade de amostras para a mais vasta gama de aplicações. Produtivo fluxo de trabalho guiado e estágio programável Proporciona o mais elevado rendimento de medição com AFM-IR intrinsecamente fácil de utilizar. Multimodal mapeamento químico e de propriedades Fornece dados quantitativos nanoquímicos, nanomecânicos e nanoeléctricos. Sub-5nm imagem fototérmica patenteada AFM-IR Permite a mais alta resolução, a melhor caraterização sinal-ruído com sensibilidade de monocamada. Capacidades e desempenho nanoIR inéditos Num único sistema, o IconIR oferece o mais alto desempenho para espetroscopia de infravermelhos em nanoescala, resolução de imagem química e sensibilidade de monocamada. Apenas o Dimension IconIR oferece: Espectroscopia nanoIR de alto desempenho com correlação FTIR precisa e repetível, resolução química <5 nm e sensibilidade de monocamada Imagem química correlativa com modos nanomecânicos e nanoeléctricos PeakForce Tapping® Aquisição de imagens AFM do mais alto desempenho e flexibilidade inigualável de amostras com acomodação de amostras grandes*