Microscópio óptico NanoWizard® 4 XP
de força atômicade laboratóriode bancada

Microscópio óptico - NanoWizard® 4 XP - Bruker Nano Surfaces - de força atômica / de laboratório / de bancada
Microscópio óptico - NanoWizard® 4 XP - Bruker Nano Surfaces - de força atômica / de laboratório / de bancada
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Características

Tipo
óptico, de força atômica
Aplicações
de laboratório
Configuração
de bancada

Descrição

O microscópio de força atómica NanoWizard® 4 XP NanoScience oferece uma resolução atómica e um grande intervalo de varrimento de 100 µm num único sistema. Permite um varrimento rápido com taxas até 150 linhas/segundo e uma integração perfeita com técnicas ópticas avançadas. Uma vasta gama de modos e acessórios para controlo ambiental, mapeamento de propriedades nanomecânicas, eléctricas, magnéticas ou térmicas, torna-o o sistema mais flexível atualmente disponível no mercado. Precisão Investigação das propriedades dos materiais Medições mecânicas, térmicas e eléctricas: Visualize a cristalização, a fusão, o crescimento e a separação de fases. Modificar amostras com estimulação ótica, campos magnéticos ou tensão. Simplificado Plataforma ideal para vários utilizadores Opções e características avançadas para utilizadores experientes. Ampla gama de acessórios para investigação de películas condutoras, gradientes de força magnética e forças electrostáticas. Desempenho 150 linhas/seg, gama de varrimento de 100µm Configuração simplificada para maior produtividade. Ideal para experiências dinâmicas de amostras altamente estruturadas. Movimento rápido e fácil em torno da amostra. A mais alta flexibilidade combinada com um desempenho extremo O NanoWizard 4 XP NanoScience está equipado com uma gama de novas funcionalidades, incluindo: PeakForce Tapping® para fácil obtenção de imagens Opção de varrimento rápido com até 150 linhas/seg Tecnologia NestedScanner para a obtenção de imagens a alta velocidade de estruturas de superfície até 16,5 µm com uma resolução e estabilidade excepcionais Nova funcionalidade de ladrilho para mapeamento automático de grandes áreas de amostra Software V7 com uma nova e revolucionária interface de utilizador baseada no fluxo de trabalho Software DirectOverlay™ 2 para uma integração perfeita e correlação de dados com plataformas avançadas de microscopia de fluorescência

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