Microscópio de força atômica FastScan®

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O sistema de microscópio de força atómica (AFM) Dimension FastScan® foi especificamente concebido para efetuar digitalizações rápidas sem perda de resolução, perda de controlo da força, complexidade acrescida ou custos operacionais adicionais. Com o FastScan obtém-se imagens AFM imediatas com a alta resolução esperada de um AFM de alto desempenho. Quer efectue o varrimento a >125Hz quando analisa uma amostra para encontrar a região de interesse, ou a taxas de tempo de 1 segundo por fotograma de imagem no ar ou no fluido, o FastScan redefine a experiência AFM. Sem compromissos desempenho de alta velocidade Oferece a mais alta resolução em qualquer altura, sempre, independentemente do tamanho da amostra. Em tempo real dinâmica em nanoescala Proporcionam a máxima velocidade e estabilidade de varrimento das pontas para visualização direta do comportamento dinâmico no ar ou no fluido. Automatizada configuração, aquisição de dados e análise Torna o funcionamento do sistema surpreendentemente simples e aumenta a produtividade, permitindo-lhe concentrar-se na sua investigação. CARACTERÍSTICAS Referência para alta velocidade e alta resolução O Dimension FastScan é o primeiro e único sistema de varrimento de ponta de alta velocidade que atinge taxas de varrimento de fotogramas por segundo sem comprometer a resolução ou o desempenho do sistema - independentemente do tamanho da amostra. Nenhum outro AFM de alta velocidade tem o acesso a amostras de grandes dimensões do FastScan. Juntamente com o PeakForce Tapping®, o sistema consegue uma medição instantânea da força com um circuito de controlo linear, permitindo uma resolução dimensional e mecânica de defeitos pontuais, e não apenas em cristais duros e planos. Produtividade excecional Todas as facetas do Dimension FastScan - desde a ponta aberta e o acesso à amostra até às definições pré-configuradas do software - foram especificamente concebidas para uma operação sem problemas e surpreendentemente simples.