Microscópio AFM Icon®

para pesquisade pisode alta resolução

O Dimension Icon® da Bruker oferece os mais elevados níveis de desempenho, funcionalidade e acessibilidade AFM aos investigadores de nanoescala na ciência e na indústria. Baseado na plataforma AFM de grandes amostras mais utilizada no mundo, é o culminar de décadas de inovação tecnológica, feedback dos clientes e flexibilidade de aplicação líder na indústria. O sistema foi concebido de cima a baixo para proporcionar o revolucionário baixo desvio e baixo ruído que permite aos utilizadores obter imagens sem artefactos em minutos em vez de horas. O mais alto desempenho scanner de ponta Oferece uma resolução inigualável de amostras grandes com níveis de ruído em circuito aberto, piso de ruído reduzido e taxas de desvio <200 pm. Fácil produtividade Fornece uma configuração surpreendentemente simples, um fluxo de trabalho intuitivo e um tempo de obtenção de resultados rápido para obter sempre dados com qualidade de publicação. Versátil plataforma de acesso aberto Acomoda a mais ampla variedade de experiências, modos, técnicas e medições semi-automatizadas. CARACTERÍSTICAS O mais alto desempenho e resolução A resolução superior do Dimension Icon, em conjunto com os algoritmos de varrimento eletrónico proprietários da Bruker, proporcionam ao utilizador uma melhoria significativa na velocidade e qualidade da medição. O Icon é o culminar da tecnologia AFM de varrimento de pontas, líder na indústria, da Bruker, incorporando sensores de posição com compensação de temperatura para proporcionar níveis de ruído na gama sub-angstrom para o eixo Z e angstroms em XY. Trata-se de um desempenho extraordinário num sistema de gama de varrimento de 90 microns para amostras grandes, que ultrapassa os níveis de ruído em circuito aberto dos AFM de alta resolução.