Microscópio de força atômica Edge™

para pesquisade bancada

O Dimension Edge™ incorpora a tecnologia PeakForce Tapping® da Bruker para proporcionar os mais elevados níveis de desempenho, funcionalidade e acessibilidade do microscópio de força atómica (AFM) da sua classe. Baseado na plataforma Dimension Icon, o sistema Edge foi concebido de cima a baixo para fornecer o baixo desvio e o baixo ruído necessários para obter dados prontos para publicação em minutos em vez de horas, tudo a preços muito abaixo das expectativas para esse desempenho. O feedback visual integrado e as definições pré-configuradas permitem obter resultados de nível especializado de forma simples e consistente, tornando as mais avançadas capacidades e técnicas de AFM de grandes amostras disponíveis para todas as instalações e utilizadores. Modular microscópio e eletrónica Oferece uma elevada fidelidade de imagem e flexibilidade de investigação a um custo moderado. Incorporado acesso ao encaminhamento de sinais Permite medições personalizadas e capacidades de investigação alargadas. Integrado controlo de palco Permite uma navegação rápida das amostras e medições eficientes em vários locais. Precisão em circuito fechado No centro das capacidades deste sistema está o reconhecido scanner de circuito fechado da Bruker. Incorporando sensores de posição com compensação de temperatura e conduzido por uma eletrónica de controlo modular e de baixo ruído, este componente de varrimento de pontas reduz os níveis de ruído de posicionamento em circuito fechado para a escala de comprimento de uma única ligação química. Grande estágio de amostragem A plataforma de amostras Dimension Edge não só é motorizada e programável para medições eficientes em vários locais, como também permite colocar mais tipos de amostras diretamente sob o scanner AFM com menos tempo de preparação.