Microscópio Raman Icon

AFMpara a pesquisa sobre materiaisde bancada

O sistema Icon AFM-Raman reúne as técnicas complementares de microscopia de força atómica e microscopia Raman para fornecer informações críticas sobre a topografia e a composição química de uma amostra. Quando estas técnicas são melhoradas com modos AFM avançados, como a caraterização eléctrica PeakForce TUNA™ exclusiva da Bruker e o mapeamento nanomecânico quantitativo PeakForce QNM®, os investigadores conseguem compreender melhor os mecanismos que conduzem a propriedades materiais específicas. Correlacionados Dados AFM e u-Raman Permite medições co-localizadas com eficiência e facilidade inigualáveis. Avançado Modos AFM avançados Ajudam os investigadores a compreender melhor os mecanismos que conduzem a propriedades específicas dos materiais. Comprovado Estabelece um novo padrão de desempenho para as capacidades de investigação micro-Raman. Estabilidade e flexibilidade de configuração O sistema AFM-Raman, constituído pelo Dimension Icon® AFM e por um microscópio Raman confocal de nível de investigação (Horiba, LabRam), encontra-se numa plataforma única, rígida e anti-vibração. Esta configuração permite que o sistema mantenha a funcionalidade total de cada instrumento individual, proporcionando um desempenho combinado ótimo. Como exemplo, a configuração permite o complemento total de actualizações Icon, modos AFM e caraterísticas de fácil utilização, incluindo o ScanAsyst® exclusivo da Bruker. O utilizador pode personalizar a combinação de modos mais eficaz para a sua aplicação. Integração perfeita de técnicas e análises Em segundos, uma amostra pode ser transferida entre as duas técnicas sem perturbação. As medições AFM e espectroscópicas da mesma área de amostra são efectuadas consecutivamente sem perigo de desalinhamento ou localização imprecisa de caraterísticas.